根据报道的受干扰而造成数据错概率统计数据，计算出引起MCU系统失效的概率已远大于功能安全要求的失效率。为了解决这一问题，需要对读取的程序指令加以检验。国外有的单片机已经添加了这一功能，即纠错编码（ECC）。本文建议一种简化的检验功能，它基于并行的CRC检验，提出了求取并行CRC检验逻辑的方法。