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  1. 下一代超快I-V测量技术

  2. 与直流电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)测量一样，是否能够进行超快I-V测量对于从事新材料、器件或工艺研发特征分析实验室的所有人都变得十分必要。进行超快I-V测量需要产生高速脉冲波形，并且在待测器件可能发生松弛之前测量产生的信号。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-24
    • 文件大小：316kb
    • 提供者：weixin_38715879