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  1. (Multisim数电仿真指导)与非门逻辑功能测试及组成其它门电路

  2. 教你怎么使用multisim做数电的仿真实验,mlitisim7,multisim8,multisim10都适用。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2009-05-23
    • 文件大小:2mb
    • 提供者:sillyboy5
  1. 数字电路与逻辑实验1

  2. 一、TTL与非门——74LS20的功能测试 二、TTL异或门——74LS86的功能测试 三、四舍五入判别电路 四、集成双JK触发器74LS76的功能测试
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2009-11-16
    • 文件大小:249kb
    • 提供者:kinga119
  1. 数字电路实验(共 21 个实验)

  2. 本书第一章为数字电路实验基础知识,主要介绍电子电路的实验要求,电路的安装、调试等技术。第二章为数字电路实验,共有 15 个实验,采用以数字实验箱、电子实验设备为工作平台进行电路实验的传统实验方法。第三章为计算机辅助实验,共有 6个实验,主要以 CPU为工作平台,通过电子电路仿真软件进行电路的仿真实验。 本书所列实验共 21 个。其中基本实验有 4 个: “实验仪器的使用及门电路逻辑功能的测试”、“OC门与TS门”、“波形的产生及单稳态触发器”、“数字电路逻辑功能的测试” 。前3 个为传统实验方
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2009-12-01
    • 文件大小:5mb
    • 提供者:zjh1109
  1. 数据逻辑电路设计实验作业

  2. 1.(设计实验)用与非门组成其它电路并测试验证 2.(设计实验)测试用异或、与或非门组成的全加器的逻辑功能。
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-06-21
    • 文件大小:68kb
    • 提供者:laoqiqi
  1. 门电路逻辑功能与参数测试PPT

  2. 与门 或门 与非门 OC门与三态门 TTL与COMS门电路的结构原理,功能与参数的测定实验,可供实验参考。
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-10-07
    • 文件大小:2mb
    • 提供者:cylong789
  1. Verilog-HDL实践与应用系统设计

  2. Verilog-HDL实践与应用系统设计本书从实用的角度介绍了硬件描述语言Verilog-HDL。通过动手实践,体验Verilog-HDL的语法结构、功能等内涵。在前五章,以简单的实例列举了Verilog-HDL的用法;在后四章,以应用系统为例详细讲解了系统设计的全过程。书中的全部例子都给出了仿真结果,其源代码都在本书所附的CD-ROM中,并均经过验证无误。 本书的前半部分特别适合于初学者,也可作为工程技术人员的参考内容。后半部分很适合工程开发和研究人员参考。本书除了介绍Verilog-HDL
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2011-02-22
    • 文件大小:14mb
    • 提供者:zhlyz2003
  1. (Multisim数电仿真)及组成其它门电路

  2. (Multisim数电仿真)及组成其它门电路
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2011-06-01
    • 文件大小:2mb
    • 提供者:ylmfwy
  1. TTL集成逻辑门的逻辑功能与参数测试

  2. TTL集成逻辑门的1、掌握TTL集成与非门的逻辑功能和主要参数的测试方法   2、掌握TTL器件的使用规则逻辑功能与参数测试
  3. 所属分类:数据库

    • 发布日期:2013-12-16
    • 文件大小:1mb
    • 提供者:u013179358
  1. 与非门逻辑功能测试

  2. 与非门逻辑功能测试内时钟频率 时钟触发沿 时钟触发模式 触发前数据点数 触发后数据点数 触发门限电平 触发组合 触发电平
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2014-01-10
    • 文件大小:18mb
    • 提供者:u013433140
  1. 与非门逻辑功能测试

  2. 与非门逻辑功能测试
  3. 所属分类:虚拟化

    • 发布日期:2014-01-10
    • 文件大小:18mb
    • 提供者:u013437558
  1. 数字逻辑实验

  2. 数字电路实验 实验一 门电路功能测试 一 实验目的: 1.掌握数字电路仿真系统软件的使用方法; 2.常用逻辑门电路的功能的测试方法; 二 实验内容: 1与非门(写出逻辑式、真值表、记录测试结
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2015-05-15
    • 文件大小:8mb
    • 提供者:wqh8522
  1. Ewb5.12电子电路仿真软件中文版含200实例及中文教程

  2. Ewb5.12电子电路仿真软件中文版含200实例及中文教程 文件 列表 │ 100进制递减计数器.ewb │ 14计数器子电路.ewb │ 16计算器.ewb │ 24或12进制加法计数.ewb │ 24或12进制加法计数子电路.ewb │ 2d限幅.ewb │ 2m振荡电路.ewb │ 4位加法器.ewb │ 50hz陷波器.ewb │ 555-1多谐振荡器.ewb │ 555fm电路.ewb │ 555单稳态电路.ewb │ 555多谐振荡电路.ewb │ 555定时报警器.ewb │ 5
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2015-10-21
    • 文件大小:9mb
    • 提供者:freedom366
  1. DEX00_与非门测试

  2. 学会使用TTL,CMOS逻辑电路芯片。 掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 熟悉用SSI(小规模集成电路)设计组合逻辑电路的方法.
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2015-12-14
    • 文件大小:593kb
    • 提供者:duguzuyang
  1. 与非门测试

  2. 学会使用TTL,CMOS逻辑电路芯片。 掌握组合逻辑电路的功能测试方法。 熟悉用SSI(小规模集成电路)设计组合逻辑电路的方法;
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2015-12-14
    • 文件大小:558kb
    • 提供者:duguzuyang
  1. 数字逻辑实验指导书

  2. 目录 第一部分 实验准备 第一章 数字逻辑实验要求 预备-1 第二章 数字逻辑实验基本知识 预备-2 第三章 MAX+plus II实验操作步骤 预备-5 第二部分 实验 实验一 逻辑门电路的功能与测试 实验-1 (一) 或门的逻辑功能测试 (二) 与非门74LS00的逻辑功能测试 (三) 或非门74LS02的逻辑功能测试 (四) 与非门74LS20的逻辑功能测试 (五) 异或门74LS86的逻辑功能测试 实验二 复合逻辑电路功能的实现测试 实验-6 (一) 用与非门组成异或门并测试验证其功能
  3. 所属分类:讲义

    • 发布日期:2018-11-27
    • 文件大小:720kb
    • 提供者:qq_41614770
  1. (Multisim数电仿真)与非门逻辑功能测试及组成其它门电路

  2. (Multisim数电仿真)与非门逻辑功能测试及组成其它门电路
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2019-01-18
    • 文件大小:378kb
    • 提供者:erisern2
  1. 实验三 集成门电路功能测试.pdf

  2. 1.基本门电路的逻辑功能测试;观测输入输出端的逻辑值,测量出输出端对应的电压值。 2.逻辑门的转换:利用 74S00 与非门组成非门,2 输入与门,2 输入或门电路。 3.门电路的基本应用:测试用“异或”门和“与非”门组 成的半加器的逻辑功能。 4.测量与非门电压传输特性。
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2020-03-14
    • 文件大小:775kb
    • 提供者:forest_one
  1. 模电 数电 单片机笔试及面试问题.pdf

  2. 该文档包括数电、模电、单片机、计算机原理等笔试问题,还讲解了关于面试的问题该如何解答,对大家有一定的帮助电流放大就是只考虑输岀电流于输入电流的关系。比如说,对于一个uA级的信号,就需要放大后才能驱动 一些仪器进行识别(如生物电子),就需要做电流放大 功率放大就是考虑输出功率和输入功率的关系。 其实实际上,对于任何以上放大,最后电路中都还是有电压,电流,功率放大的指标在,叫什么放大,只 是重点突出电路的作用而已。 15.推挽结构的实质是什么? 般是指两个三极管分别受两互补信号的控制,总是在一个三极
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2019-10-12
    • 文件大小:649kb
    • 提供者:fromnewword
  1. 数字逻辑实验报告一.docx

  2. 一、实验目的 1、熟悉仿真软件Proteus的应用方法; 2、熟悉TTL基本门电路的功能; 3、熟悉中规模集成电路芯片74LS148、74LS138、74LS48、74151的功能; 4、掌握组合逻辑电路分析的一般方法; 5、掌握组合逻辑电路设计的一般方法,能应用集成电路芯片74LS138、74151等进行组合逻辑电路设计。 二、实验内容及步骤 (一)熟悉仿真软件Proteus,对TTL基本门电路(与门、或门、非门、与非门、或非门、异或门、与或非门)进行功能测试。步骤如下: 1、进入Proteu
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2020-06-03
    • 文件大小:852kb
    • 提供者:weixin_44279771
  1. 集成门电路使用及逻辑功能测试

  2. 修改后的门电路课件:与非门、或门、非门、与或非门、OC门与三态门及TTL与CMOS电路结构、逻辑功能与参数测试及应用。
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2010-10-12
    • 文件大小:2mb
    • 提供者:cylong789
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