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  1. 中子寿命和轴向耦合连接

  2. 中子衰变n→peν的实验研究显示出两个异常。 第一个是8.6(2.1)s,平均测得的中子寿命τnbeam= 888.0(2.0)s与更精确的平均捕获超冷中子测定τntrap= 879.4(6)s之间的差约为4σ。 第二个是2002年以前的平均轴向耦合gA(以中子衰减不对称性gApre2002 = 1.2637(21)测量)与最近的2002年之后的平均gApost2002 = 1.2755(11)之间的5σ差异,其中,根据UCNA协作分部 ,实验会根据其最新结果的日期进行分类。 在这封信中,我们使
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-04-05
    • 文件大小:155kb
    • 提供者:weixin_38564826