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搜索资源列表

  1. 51单片机、数字多用表8845、pc电源稳定性测试系统

  2. 该产品使用51单片机进行多路输入切换控制，数字多用表进行数据采集，电脑进行单片机的控制和数据汇总与分析存储等。 对电源产品的输出稳定性和可靠性进行评估，需要使用一套稳定性测试系统，通俗的称为老化系统，对电源进行长时间的通电试验，并对输出电压的数值进行间隔采样，然后对采样数据进行分析，以确定电源的输出是否在允许的范围之内，工作是否出现异常。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-07-20
    • 文件大小：4mb
    • 提供者：nathen_zhang1

  1. U盘SD卡CF卡等移动存储产品扩容

  2. U盘SD卡CF卡等移动存储产品扩容识别工具扩容检测坏块扫描速度测试老化测试坏块屏蔽

  3. 所属分类：网络设备

    • 发布日期：2011-04-16
    • 文件大小：580kb
    • 提供者：a88888a88

  1. 一种产品老化时自动检测与查询系统的开发

  2. 一种产品老化时自动检测与查询系统的开发，电源老化的巡检测试，远程检测的软硬件的开发，为老化设备技术人员参考。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-04-17
    • 文件大小：125kb
    • 提供者：fsomika

  1. 恒温老化房论述

  2. 恒温老化房，也叫高温老化房和老化房，是针对高性能电子产品（如：计算机整机，显示器，终端机，车用电子产品，电源供应器，主机板、监视器、交换式充电器等）仿真出一种高温、恶劣环境测试的设备，是提高产品稳定性、可靠性的重要实验设备、是各生产企业提高产品质量和竞争性的重要生产流程，该设备广泛应用于电源电子、电脑、通讯、生物制药等领域。

  3. 所属分类：交通

    • 发布日期：2013-05-08
    • 文件大小：3mb
    • 提供者：sfx87

  1. U盘整体性能测试工具

  2. 可以方便的检测出存储产品是否经过扩充容量，以次充好。 还可以检测FLASH闪存是否有坏块，是否采用黑片，不破坏磁盘原有数据。 并可以测试U盘的读取和写入速度，对存储产品进行老化试验。是你挑选U盘和存储卡必备的工具。

  3. 所属分类：Flash

    • 发布日期：2009-02-12
    • 文件大小：51kb
    • 提供者：tttccabc

  1. U盘/SD卡/CF卡等移动存储产品扩容识别工具

  2. 扩容检测、坏块扫描、速度测试、老化测试、坏块屏蔽

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-03-03
    • 文件大小：78kb
    • 提供者：zhangbin2602

  1. 安全性关键软件的可靠性测试与安全性分析.pdf

  2. 软件可靠性测试不同于硬件可靠性测试．这主要是因为二者失效的原因不同．硬件失效一般是由于元器件的老化引起的．因此，硬件可靠性测试强调随机选取多个相同的产品，统计它们的正常运行时间．正常运行的平均时间越长，刚硬件就魑可靠．软件失散是由设计缺陷造成的，软件的输入决定是否会遇到软件内部存在的故障．因此。使用同样一组输入反复测试软件并记录其失效数据是没有意义的．在软件没有改动的情况下。这种数据只是首次记录的不断重复，不能用来估计软件可靠性．所以软件可靠性测试强调按实际使用的概率分布随机选择输入，并强调测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-02-02
    • 文件大小：265kb
    • 提供者：zjak47

  1. 罗克韦尔自动化 电能质量产品选型手册——1606,1609电源（中文）.pdf

  2. 罗克韦尔自动化 电能质量产品选型手册——1606,1609电源（中文）pdf,罗克韦尔自动化 电能质量产品选型手册——1606,1609电源（中文）采用导轨安装方式的通用开关电源 可靠性和安全性 具有功率储备功能 不论标准型还是紧凑型,它们都是耐用,采用电原泵 技术,在不 可靠,故障保险的。 和 降低输出电压的情况下提供高达 系列电源产品提供多种解次方案的额外功率储备。在减小电压不产生负 来提高应用的可靠性和安全性。 面热效应的情况下,过载设计刂持续输 在出货之前所有的设备必须通过出高达%的额定

  3. 所属分类：其它

  1. MW低压空气断路器和负荷开关产品目录.pdf

  2. MW低压空气断路器和负荷开关产品目录pdf,MW低压空气断路器和负荷开关产品目录Masterpact Mw 概述 用途 Masterpact MW系列万能式空气断路器和负荷开关,用于保护和控制低压配电网络。 般安装在电网的低压配电柜中,作为进线单元或馈线部分。适用于交流50/60H2,额定 工作电压440V 符合的标准 国际标准:lEC60947-2 国内标准GB140482 Masterpact MV系列万能式空气断路器已通过中国CCC认证和中国船籍社CCS认证。 W404~16D4 运行环境

  3. 所属分类：其它

  1. 2006测试测量和自动化解决方案文集.pdf

  2. 2006测试测量和自动化解决方案文集pdf,该资料是基于计算机的测试测量和自动化应用方案2006年优秀论文的合订本，包含全部获奖论文。LabV正W特别奖 基丁虚拟仪器的发动机试验台架系统.… 行业:汽车 院校特别奖 基于LabⅤIEW的智能车仿真平台 64 行业:高校/教育 N系统联盟商特别奖 采用N模块化仪器构建业界领先的RFID测试系统. .67 行业:电信 一等奖 汽车 基于N产品的高压共轨柴油机电控单元测试系统的开发 作者:杭勇杨明陆娟 职务:高级工程师 公司:一汽无锡油泵油嘴研究所

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-09
    • 文件大小：74mb
    • 提供者：weixin_38743481

  1. 最新加速测试标准

  2. 最新的加速测试标准，13年发布，国标版正在制定中，可用于MTBF计算，产品老化，等需要加速测试过程的场合。

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2014-05-03
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：yangzx2000

  1. ITECH电源和老化测试软件在LED照明产品的老化测试的应用

  2. ITECH电源和老化测试软件在LED照明产品的老化测试的应用

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-08-17
    • 文件大小：333kb
    • 提供者：luodegoodjob

  1. 老化标准文档d

  2. 电子产品基本环境试验规程的老化标准文档，是国家测试标准文档。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2012-01-06
    • 文件大小：499kb
    • 提供者：gxggdey

  1. 电子产品老化标准---编译：关道丰

  2. 为了达到满意的合格率，几乎所有产品在出厂前都要先藉由老化。制造商如何才能够在不缩减老化时间的条件下提高其效率？本文介绍在老化过程中进行功能测试的新方案，以降低和缩短老化过程所带来的成本和时间问题。 在半导体业界，器件的老化问题一直存在各种争论。像其它产品一样，半导体随时可能因为各种原因而出现故障，老化就是藉由让半导体进行超负荷工作而使缺陷在短时间内出现，避免在使用早期发生故障。如果不藉由老化，很多半导体成品由于器件和制造制程复杂性等原因在使用中会产生很多问题。 在开始使用后的几小时到几天之内出现

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2010-07-22
    • 文件大小：397kb
    • 提供者：lxd2757

  1. 多种电池综合测试利器-电池内阻电池容量电池充放电

  2. 国家政策和国际趋势表明：工业时代已经进入新能源时代！主要用于大功率电源系统、动力电池组、电力电子元件等产品的老化、测试，业界独家具有电池内阻、容量、充放电测试功能！ FT6800A系列独具电池容量功能。这使得在电池测试领域有着独特优势。同时电池测试仪整合了及时精确的电压、电流测量功能，用户可以在线进行及时的电压测量与调整。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2011-09-07
    • 文件大小：69kb
    • 提供者：faithtech17

  1. 集成电路中的集成电路老化测试插座的结构形式

  2. 摘要：集成电路（IC）老化测试插座（以下简称老化测试插座）主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合，其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。 　　集成电路制造厂对其生产的每种集成电路封装器件都要进行老化测试，所以集成电路需求量的迅速增长，为老化测试插座产业也提出了更高的要求，必须具备与产量和品种相适应的老化测试插座。老化测试插座是对集成电路进行可靠性验证和各类环境适应性试验的必备的试验装置。 　　集成电路封装的结构型式 　　集成电路芯片的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：448kb
    • 提供者：weixin_38639471

  1. 低导通电阻MOSFET测试中的自动校验技术

  2. 导通电阻的准确测量是低导通电阻MOSFET测试中的一个难点。介绍了一种用于低导通电阻MOSFET测试过程中自动校验测试系统的方法。通过在DUT板上增加高精度低阻值标准电阻测试回路的方法，在正式测试前对测试系统进行自动校验，校验合格后继续对MOS管进行测试，否则将停止测试；避免了由于自动测试设备（ATE）、DUT板、金手指等测试单元的精度漂移、器件老化等因素导致测试不准确的情况，保证了产品的测试精度，对提升测试的品质具有重要意义。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-17
    • 文件大小：232kb
    • 提供者：weixin_38645862

  1. 老化箱的模糊PID控制

  2. 对电子产品进行老化测试时，老化测试箱的温度控制效果至关重要。为了改善老化测试箱的温度控制，介绍了温度测试箱的系统结构，随后介绍了PID和模糊控制，最后对系统进行模糊PID控制的仿真。仿真系统采用模糊控制算法对温度进行控制，实现了很好的控制，达到了满意的控制效果。仿真结果表明，模糊控制方法提高了控制的实时性、稳定性和精确度，对于工程实际应用具有较强的借鉴意义。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：510kb
    • 提供者：weixin_38558659

  1. 基础电子中的宽范围高稳晶振频率稳定度测试系统的设计

  2. 0 引 言 　　高稳定度石英晶体谐振器(简称高稳晶振)是广泛应用于通讯、电子对抗、数传电台、计算机等电子信息产品的重要器件。高稳晶振的指标直接影响产品的可靠性，因此如何检测其性能是非常重要的。 　　代表性测量仪器是频稳测试系统(误差倍增器+多路开关)。其原理是将被测频率源的频率起伏△f进行倍频，然后再用频率计数器进行测频来计算准确度、老化率、日波动等指标。在频稳测试系统的设计中，信号源是一个重要的组成部分。其作用为产生高性能的输出频率(1～100 MHz)可设定的钟信号，与被测晶振的信号进行

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-09
    • 文件大小：187kb
    • 提供者：weixin_38597990

  1. 如何进行CAN通信设备的批量老化测试

  2. 老化测试是产品生产中必不可少的环节，对于CAN通信设备如何进行批量高效的老化测试呢?本文将从成本及方案优化两方面简述测试方法。　　1 . 什么是老化测试　　老化测试是将产品置于实际使用环境中评测其使用寿命、稳定性等指标的一种测试方式。比如对塑胶材料制品，常使用光照老化、湿热老化、热风老化。对于电子设备的老化测试，除了以上材料老化测试还经常需要上电测试，以此来考验产品的稳定性。老化测试通常在专用的老化室中进行。　　图1 老化室　　2 . CAN通讯设备老化测试　　对于CAN通信设备的老化测试，主要

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：164kb
    • 提供者：weixin_38518376
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