基于有机半导体发光材料, 研究了低折射率对比度下八重准晶结构中双缺陷微腔之间的缺陷模的耦合特性。研究结果表明, 在八重准晶双9孔缺陷情况下, 缺陷模不但发生了分裂, 还出现了一个由双缺陷微腔与中间散射体所构建的复合腔新模式。在此基础上, 利用缺陷模的三维场分布和模式之间的相位关系, 揭示了模式耦合的物理机制, 这为后续可见光波段有机半导体光子晶体器件的设计与制备提供了理论依据。