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搜索资源列表

  1. GB2423.1-89低温试验标准

  2. 本标准等效采用国际标准IEC 68-2-1}基本环境试验规程试验A:寒冷》(1974年版)及其第一次补充文件IEC 68-2-1A(1978)。 本标准规定了电工电子产品基本环境试验规程试验A:低温试验方法。 本标准适用于非散热和散热的电工电子产品(包括元件、设备及其他产品)的低温试验。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2009-03-30
    • 文件大小：499kb
    • 提供者：ywh2000

  1. 联想-移动终端主机可靠性试验要求及方法

  2. 环境 可靠性试验 ................................ ................................ ................................ ................................ 8 R1.0_ 环境试验前初始检测 ................................ ................................ ........................

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2018-04-04
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：xj7847319

  1. 恒温恒湿试验箱SOP

  2. 本设备为可程式恒温恒湿试验箱E600的详细操作SOP,适用于手机平板类产品的环境试验。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2018-08-08
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：qcz00622

  1. GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验.pdf

  2. GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验pdf,GJB 150.4-1986 军用设备环境试验方法 低温试验

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-16
    • 文件大小：70kb
    • 提供者：weixin_38744270

  1. GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法.pdf

  2. GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法pdf,GB 2423.1-1989 电工电子产品基本环境试验规程 试验A：低温试验方法

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-22
    • 文件大小：453kb
    • 提供者：weixin_38743506

  1. GB 2423.27-1981; 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z_AMD_低温_低气压_湿热连续综合试验方法.pdf

  2. GB 2423.27-1981; 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z_AMD_低温_低气压_湿热连续综合试验方法pdf,GB 2423.27-1981; 电工电子产品基本环境试验规程 试验Z_AMD_低温_低气压_湿热连续综合试验方法

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-22
    • 文件大小：112kb
    • 提供者：weixin_38743481

  1. GB 2424.1-1989; 电工电子产品基本环境试验规程 高温低温试验导则.pdf

  2. GB 2424.1-1989; 电工电子产品基本环境试验规程 高温低温试验导则pdf,GB 2424.1-1989; 电工电子产品基本环境试验规程 高温低温试验导则

  3. 所属分类：其它

  1. 基于煤低温氧化试验下的标志气体优选及应用

  2. 为了解决口孜东矿121301工作面采空区遗煤自燃严重的问题,在对该矿121301工作面煤样进行低温氧化试验分析后,提出了煤温在30~100℃时,以CO作为标志气体,在100~140℃时,以C2H4作为标志气体,在140℃以上,以C3H8作为标志气体,并且以火灾系数R2作为辅助性指标参数,拟合出了标志气体浓度与温度之间的函数关系式;在对121301工作面的实际应用中,采用质量守恒定律间接算得早期标志气体CO的浓度,采用埋管检测C2H4、C3H8,提出了用函数关系式推算遗煤所处环境温度的方法,把试验

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-05-06
    • 文件大小：273kb
    • 提供者：weixin_38682054

  1. GB 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则.pdf

  2. GB 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则pdf,GB 2424.22-1986 电工电子产品基本环境试验规程 温度(低温、高温)和振动(正弦)综合试验导则

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-10-08
    • 文件大小：114kb
    • 提供者：weixin_38743481

  1. 环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析.pdf

  2. 环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析pdf,环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析nvironmental 环境试验 颗率 影响温度循环效果的参数主要有:温度变化范同、温度变 A—功率谱密度曲线下所覆盖的面积 化熜率、上下限温度下的停留时间、循环次数等。当进行温度 GJB1032中规定图3中相应的量值为W2=W2=0.04g2m, 循环时,这些参数会以不同形式影响产品的筛选效昊,选择恰 N,=3dB/act, N,=-3dB/oct, f,20Hz,/2=80Hz,/3-350Ha 当的温度循

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-19
    • 文件大小：598kb
    • 提供者：weixin_38743602

  1. 低温 环境试验

  2. 电子信息标准，电工电子产品环境试验 第二部分，低温试验方法！

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2012-12-10
    • 文件大小：912kb
    • 提供者：fhpzxq

  1. GJB 150.4 低温试验

  2. GJB 150.1 军用设备环境试验方法 GJB 150.4 低温试验

  3. 所属分类：Java

    • 发布日期：2010-08-09
    • 文件大小：61kb
    • 提供者：liuzhenfang

  1. GJB150.4-86 军用设备环境试验方法　低温试验

  2. GJB150.4-86 军用设备环境试验方法　低温试验

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2010-07-29
    • 文件大小：61kb
    • 提供者：hixiaocao

  1. 基于吸附势理论的低温环境煤甲烷吸附等温线预测

  2. 为了准确预测低温条件下煤对甲烷的吸附等温线,选用平顶山己15-17煤层煤样,并以高低温变频实验装置为依托,对煤样进行高/低温环境(-20、-10、0、10、20℃)下的甲烷吸附试验。基于吸附势理论,利用吸附特性曲线的唯一性,根据20、10、0℃的甲烷吸附数据,预测-10、-20℃时甲烷的吸附等温线。结果表明:预测的吸附等温线与实测的吸附等温线吻合良好,平均相对误差分别为2.47%和2.64%。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-16
    • 文件大小：436kb
    • 提供者：weixin_38620893

  1. 如何维护（电源）环境试验设备方法

  2. 环境试验设备品种繁多，但使用最广泛的环境试验设备为高温、低温、湿热试验箱，而现今比较流行是集合了高温、低温、湿热为一体的试验箱—高低温湿热试验箱，它的修理难度较其它环境试验设备大，且具有代表性。下面就高低温湿热试验箱为例，谈一谈高低温湿热试验箱的构造及一些常见故障和排除方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-18
    • 文件大小：58kb
    • 提供者：weixin_38680492

  1. 基础电子中的电子装备环境试验故障影响因素分析

  2. 摘要：对不同的环境应力（温度循环、高温、低温、振动和湿度）下，电子装备产品环境试验故障影响因素进行了分析。同时对引起故障的机理进行了分析探讨。归纳了不同的应力暴露出的故障模式，对电子装备产品暴露出的一些故障情况进行了统计分析，并根据统计分析结果提出了改进可靠性试验方法的建议。 　　1.引言 　　目前，电子产品在武器装备中的重要性越来越高，对电子产品的可靠性要求也在随之不断提高。电子装备现场实际使用结果表明，电子产品的故障率仍然是影响武器装备及战备完好性的主要因素之一。因此，研究电子产品故障与

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：108kb
    • 提供者：weixin_38679651

  1. 可靠性试验操作指引_V1.0.docx

  2. 可靠性试验操作指引: 本规范适用于技术预研类、产品研发类、定制开发类和派生类项目的可靠性试验活动 环境试验； 高低温老化； 机械试验 开关机试验 MTBF试验

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2021-03-13
    • 文件大小：350kb
    • 提供者：tianxingjun

  1. 高空低气压低温环境下的电晕放电特性模拟试验系统

  2. 高空低气压低温环境下的电晕放电特性模拟试验系统

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-10
    • 文件大小：798kb
    • 提供者：weixin_38715879

  1. 某型产品电路板热可靠性故障理论与试验分析

  2. 针对某型产品电路板热可靠性故障，需要提高其中某一模块的印制电路板的可靠度。采用了建立有限元模型并仿真分析的方法，并结合环境应力筛选试验中的高低温循环试验，验证了有限元热模型建立的合理有效。然后根据实际科研生产情况，结合有限元理论分析，提出了一种有效降低印制电路板局部芯片温度的措施。最后通过试验和实际应用，验证了这种措施将目标位置芯片的温度降低了10.69 ℃，将目标电路板故障率减少了50%，并为以后的科研生产和热可靠性设计提供了参考。

  3. 所属分类：其它

  1. 电子装备环境试验故障影响因素分析

  2. 摘要：对不同的环境应力（温度循环、高温、低温、振动和湿度）下，电子装备产品环境试验故障影响因素进行了分析。同时对引起故障的机理进行了分析探讨。归纳了不同的应力暴露出的故障模式，对电子装备产品暴露出的一些故障情况进行了统计分析，并根据统计分析结果提出了改进可靠性试验方法的建议。 　　1.引言 　　目前，电子产品在武器装备中的重要性越来越高，对电子产品的可靠性要求也在随之不断提高。电子装备现场实际使用结果表明，电子产品的故障率仍然是影响武器装备及战备完好性的主要因素之一。因此，研究电子产品故障与

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：107kb
    • 提供者：weixin_38663113
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