反铁磁掺杂的拓扑绝缘体（ATI）可以容纳动态轴场和轴极化子，它们是类似于暗轴的弱相互作用准粒子，而暗轴则是人们长期以来一直在寻找的暗物质粒子。 在这里，我们证明了在ATIs中使用轴突准粒子反铁磁共振与检测THz光子的低噪声方法相结合，提供了一种可行的途径来检测质量为0.7至3.5 meV的轴突暗物质，这是其他暗物质检测目前无法达到的范围 实验和建议。 这种方法在高频下的好处是可以在施加磁场的情况下实现共振的可调谐性，并可以使用体积远远大于1 mm3的ATI样品。