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搜索资源列表

  1. 电路可靠性设计与元器件选型.doc

  2. 电路可靠性设计与元器件选型.doc 1、电子可靠性设计原则 2、电路可靠性设计规范 3、可靠性测试 4、元器件选型 5、元器件失效机理与分析方法 6、电路可靠性设计微观管理方法

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-04-30
    • 文件大小：37kb
    • 提供者：abcade

  1. KTV灯光控制面板

  2. 尚秦之星ktv灯光控制器使用说明书上海腾电电子有限公司联系人龙态平18857134303传真0571--85026922 使用产品前，请仔细阅读和您购买的尚秦之星产品上的标记及相应配套部分 警告 此符号用于警告用户，表示该处有关于产品之重要操作或修理的有关指示说明 此符号用于表示产品外壳内部有足以使人产生触电危险的裸漏的危险电压 * 控制器后部及侧面的开槽和洞孔是为了提供必要的通风散热和固定机器而设计。 为了确保本机的可靠操作和防止其过热，切勿堵塞或遮盖这些开槽或过孔。 •不要用布或其他材料遮

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2012-11-04
    • 文件大小：258kb
    • 提供者：longping88

  1. 元器件选型

  2. 可靠性设计及元器件选型 1、电子可靠性设计原则 2、电路可靠性设计规范 3、可靠性测试 4、元器件选型 5、元器件失效机理与分析方法 6、电路可靠性设计微观管理方法

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2018-09-04
    • 文件大小：20kb
    • 提供者：windky82

  1. 使用工业级热特征提取方法提高大功率半导体的测试与故障诊断速度.pdf

  2. 探索如何使用工业热特征提取测试解决方案的大功率半导体元器件，将自动功率循环与实时、正在发生的故障诊断组合在一起。 主题包括通过分析热传导路径、预测寿命（1万次到100万次循环）和验证热属性，评估堆叠材料结构降级程度或失效。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-07-23
    • 文件大小：1017kb
    • 提供者：weixin_39841856

  1. 可靠性工程师 样题.pdf

  2. 中国国质量协会-注册可靠性工程师相关报考资料，考试题样题。B. R(x) C. P(x=e D.R(x)=1-e3 10.某产品的寿命为指数分布,故障率为0.1/小时,则工作3小时不发生故障的 概率是() A.0.2592 B.0.3 C.0.7408 D.0.1 11.关于参数佔计的正确说法是() A.对母体参数的点估计使用一个统计的单一值去估计一个位置参数的数 值 B.在给定置信度(1-α)的情况下,对未知参数的置信上限和置信下限做 出估计的方法是双侧区间估计,又称双边估计。 C.在给定置信

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-11-01
    • 文件大小：108kb
    • 提供者：wonringking

  1. FA工业自动化设备设计基础-A.pdf

  2. 目录 绪论 一 目的 二 设备结构划分 三 设备模块划分 四 设备元器件 五 图纸 六 软件 第一章 基于工程实践的工程制图基础 第一节 工程图纸基本要求 第二节 制作工程图纸 清晰的视图 完整的尺寸 合理的公差 适当的材料 正确的工艺要求 完整的文档管理内容及工件信息 附 1 图纸中常用英文单词 附 2 尺寸链解算方法 附 3 关于公差的补充说明 第二章 常用的自动化元器件及选型基础 第一节 气动系统元器件选型及应用 气动系统基本元器件 气缸及其附件选型及应用 真空器件

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-06-08
    • 文件大小：2mb
    • 提供者：hun517

  1. 电子元器件失效分析可靠性物理

  2. 电子元器件失效分析（可靠性物理）:材料学、物理学（包括原子物理）、化学、冶金学和各种电子元器件专业 诸多学科的综合知识； 失效分析中:电子元器件的工作原理、结构和工艺设计、制造技术及测试和检测方法；并广泛采用各种理化分析仪器及设备进行分析与研究。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2010-07-26
    • 文件大小：902kb
    • 提供者：pwy122

  1. 元器件的电过应力失效分析

  2. 本篇文章就是用器件EOS损伤为例来说明电应力对器件造成损伤的现象、成因、查找方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-03
    • 文件大小：66kb
    • 提供者：weixin_38593723

  1. 元器件应用中的解析CAF失效机理及分析方法

  2. 摘 要 随着电子产品的快速发展，电子设备更是朝着轻.薄.小的方向发展，使得印制电路板CAF问题成为影响产品可靠性的重要因素.通过介绍CAF失效原理，及CAF失效分析方法，为加工商提供CAF效应分析和改善的依据. 　　1 前言 　　在电子设备领域，以汽车电子或某些军工装备为例，其对耐高温高湿环境的要求较高.随着此类产品向着高密度化发展，孔间距越来越小，这使得印制板对孔的可靠性要求也相应提高，所以印制电路板产生的导电阳极灯丝就成为影响产品可靠性的重要因素. 　　导电阳极丝（英文简称：CAF;全

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：270kb
    • 提供者：weixin_38735899

  1. 电源技术中的航天器大功率DC-DC变换器的热仿真分析

  2. 引言 　　随着电子技术的迅猛发展，电子设备的功率密度不断提高。高功率密度带来的高温对大多数电子元器件将产生严重的影响，它会导致电子元器件的失效，进而引起整个设备的失效。因此电子设备的热设计在整个产品的设计中占有越来越重要的地位，传统的热设计方法已经很难适应发展的需要。为了减少设计成本、提高产品的一次成功率，改善电子产品的性能，热仿真技术越来越普遍的应用于电子设备的热分析过程。设计人员借助热仿真可以减少设计、生产、再设计和再生产的费用，模拟特殊工作环境中的边界条件，缩短高性能、高可靠度电子设备的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：476kb
    • 提供者：weixin_38679651

  1. GJB 8897-2017 军用元器件失效分析要求与方法.pdf

  2. 军用元器件失效分析要求与方法,高清板。军用元器件失效分析要求与方法,高清板。军用元器件失效分析要求与方法,高清板。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-01
    • 文件大小：4mb
    • 提供者：u011215426

  1. 颗粒碰撞失效分析

  2. 朱卫良 宫建华 陆 坚(中国电子科技集团公司第58研究所，江苏 无锡 214035)摘 要：本文讲述了颗粒碰撞失效的分析方法。找出了引起失效原因的可动颗粒。关键词：颗粒碰撞；可动颗粒；X-射线中图分类号：TN407 文献标识码：A1 引言颗粒碰撞噪声试验是用来检测集成电路、混合电路、晶体管、继电器和开关等电子元器件封装腔体里存在的自由粒子，腔体里存在的自由粒子，也即多余的可动物时，它可导致元器件失效、时好时坏，特别是整机在运动过程中更表现突出，故对产品的可靠性，尤其是航天产品，危害性极大。 颗粒

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：76kb
    • 提供者：weixin_38703669

  1. 电源技术中的变频器故障综合分析与处理方法

  2. 1  引言    随着科学技术水平的不断提高，新型大功率电力电子元器件的诞生，集成电路和微机技术的应用，交流变频调速技术已日趋完善和成熟。交流变频调速系统以调速范围宽、动态响应快、调速精度高、保护功能完善和操作简单等优点，已在冶金、石化、电力、机械、民用电器等行业得到广泛应用。    变频器在正常使用6-10年后，就进入故障的高发期，经常会出现元器件烧坏、失效、保护功能频繁动作等故障现象，严重影响其正常运行。在长期从事设备维修工作中，本人遇到过许多不同的变频器故障，在对其处理过程中，发现其故障类

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-07
    • 文件大小：141kb
    • 提供者：weixin_38628612

  1. 综合多种信息的金属化膜电容器可靠性评估

  2. 金属化膜电容器是惯性约束聚变激光装置能源系统最重要的元器件之一．其可靠性水平对整个装置的可靠性和运行维护费用有着重要的影响。在分析金属化膜电容器失效机理的基础上，采用Wiener过程对其性能退化过程进行建模，得到了其寿命分布。在此基础上，提出了一种综合性能退化数据和寿命数据的可靠性评估方法。给出了一种评估精度的分析方法，对综合评估方法和基于性能退化数据评估方法的精度进行了分析，结果表明，综合评估方法的评估精度高于基于性能退化数据的评估方法的评估精度。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-23
    • 文件大小：420kb
    • 提供者：weixin_38500047

  1. 基于“失效模式-失效机理-分析模型”的电子产品可靠性分析应用

  2. 电子产品可靠性分析、评价的重点在于确定其高风险环节。基于充分考量失效机理的分析目的，采用了“元器件-失效模式-失效机理-影响因素”相关联的分析方法，通过相关物理模型和一个电子产品分析案例，实现了利用这一方式确定高风险环节和分析可靠性的全过程，得到了这一方法比采用FMEA等失效模式分析更为实际、准确的结论。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-31
    • 文件大小：990kb
    • 提供者：weixin_38664469

  1. 元器件失效分析方法

  2. 器件一旦坏了，千万不要敬而远之，而应该如获至宝。 　　开车的人都知道，哪里能练出驾驶水平？高速公路不行，只有闹市和不良路况才能提高水平。社会的发展就是一个发现问题解决问题的过程，出现问题不可怕，但频繁出现同一类问题是非常可怕的。 　　失效分析基本概念 　　定义：对失效电子元器件进行诊断过程。 　　1、进行失效分析往往需要进行电测量并采用先进的物理、冶金及化学的分析手段。 　　2、失效分析的目的是确定失效模式和失效机理，提出纠正措施，防止这种失效模式和失效机理的重复出现。 　　3、失效

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：481kb
    • 提供者：weixin_38548507