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  1. 小型环形激光器中He-Ne气体放电辉光压制的光学方法

  2. 为解决小型环形激光器输出信号信噪比随腔长减小而下降的问题，研制了一种压制He—Ne气体放电辉光的滤光片。该滤光片的中心波长为632．8 nm，入射角为4 5。，其基片是截止波长为550 nml的短波截止红色玻璃，基片前表面镀有19层膜系结构为{HL2HIHIHIH2IHIHIHIH2LH)的窄带滤光片，后表面镀有，1层非规整减反膜。使用离子溅射法和石英晶振膜厚监控方式制备了该滤光片，并对其进行了反向工程拟合，拟合的理论曲线与用T。ambda950分光光度计正入射实测的透过率曲线较为吻合。将该滤光

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  1. 石英晶体监控膜厚仪的发展与应用

  2. 石英晶体振荡监控光学薄膜厚度是直接监控光学薄膜物理厚度的方法,与工作波段无关,设置简单,各种厚度皆可控制,易于实现自动控制,将会越来越广泛地应用在光学薄膜厚度监控中。本文首先介绍了石英晶体监控膜厚仪监控光学薄膜厚度的原理,然后讨论了石英晶体监控仪的发展和晶振片的稳定性。

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  1. 光学膜厚的监控方法

  2. 提出了一种提高光电极值法中膜层厚度监控精度的新方法。通过提高判读点的精度, 避免了光学极值法中停镀时存在的随机误差; 通过算法的处理, 将监控信号和光学厚度间的非线性关系转变成了线性关系, 并推算出最佳起判时间, 避免了监控薄膜沉积时非线性误差对极值点判别的影响。

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  1. 投影光学系统中的偏振像差分析

  2. 当光束斜入射时,光学薄膜存在一定的偏振效应。在飞利浦棱镜系统中,当一定大小孔径角的照明光束斜入射到分色合色薄膜后,S偏振分量和P偏振分量存在一定的相位差,使得线偏振光变成椭圆偏振光。利用琼斯矩阵偏振光线追迹的方法,分析了投影光学系统中由于两偏振分量相位差引起的偏振像差,以及它与暗态泄漏光强和系统衬比度的关系。得出了系统出瞳面上的光波偏振特性,以及在不同大小孔径角的照明光束入射下偏振像差的变化。分析了膜厚监控误差对光学系统偏振像差的影响,发现膜厚监控误差对偏振像差和系统衬比度有很大的影响。所使用的

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    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：906kb
    • 提供者：weixin_38625192

  1. 可见与红外双波段宽带增透膜的研制

  2. 根据军用光学仪器的使用要求,在多光谱ZnS基底上镀制增透膜,要求薄膜在可见与近红外波段400-1000 nm及远红外波段7-11 μm的平均透射率均大于90%。采用电子束真空镀膜的方法并加以离子辅助沉积系统,通过选择ZnS和YbF3作为高低折射率材料,利用最新OptiLayer软件三大模块的功能辅助,调整镀膜工艺参数,改进监控方法,减少膜厚控制误差,在多光谱ZnS基底上成功镀制符合使用要求的增透膜。所镀膜层在可见与近红外波段400-1000 nm的平均透射率大于91%,远红外波段7-11 μm的

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  1. 嵌入式宽光谱在线膜厚监控系统设计

  2. 通过对宽光谱膜厚监控原理分析，设计出一套便携的嵌入式宽光谱在线膜厚监控系统。该系统基于ARM9内核微控制器S3C2440, 采用Linux操作系统,使用跨平台Qt2开发可实时监控界面。系统通过USB光纤光谱仪采集光谱数据，S3C2440微控制器对采集的光谱数据通过宽光谱扫描、评价函数、单波长极值等多种方法进行综合处理，最终达到监控镀膜过程中的光学膜厚的目的。系统测试表明，该系统测量精度高、测量速度快且便于携带。

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  1. 589 nm激光器光路整合系统滤光膜的研制

  2. 为了提高黄光激光器的信噪比，采用Ta2O5和SiO2作为高低折射率材料，通过电子枪蒸发及离子辅助沉积技术，利用制备的589、1064、1178、1342 nm波长处分别有特定透射率的干涉截止滤光片对无用光信号进行过滤。在实际镀制过程中，由于沉积工艺条件不同，导致材料折射率的不稳定。另外监控方法易引起误差.通过调整优化工艺参数并调整膜系，有效控制膜厚监控精度，提高了对应波长的光学性能。经过高温、潮湿等恶劣环境测试，该滤光片满足黄光激光器的使用要求。

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