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  1. 光弹调制原理

  2. 弹光调制器是通过在弹光晶体两端加上周期性变化的机械应力从而对晶体材料的折射系数进行改变的调制技术,是一种以弹光效应为基础的人工双折射现象。19世纪初苏格兰物理学家David发现各项异性的晶体在机械应力的作用下折射率发生变化，这是弹光效应的早期发现

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2018-07-23
    • 文件大小：149kb
    • 提供者：qq_42658959

  1. 弹光调制压电晶体驱动控制器的设计

  2. 针对弹光调制器需要高压、小电流双向正弦电源的工作特点，设计了一种压电晶体驱动控制器,主要由功率放大电路、充放电回路、LC谐振电路等部分组成。它能提供正负输出，并能对压电晶体进行快速充放电。输出正弦电压频率为50.018 kHz，峰-峰值电压可达1 500 V，ZnSe晶体的最大振动位移可以达到4.5 μm。实验结果表明，该驱动控制器可满足压电晶体的驱动要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-18
    • 文件大小：402kb
    • 提供者：weixin_38638312

  1. 基于铌酸锂压电弹光双效应的单晶体弹光调制器

  2. 为了克服Kemp型弹光调制器调制效率低、加工工艺困难及体积大等缺点,提出了采用铌酸锂(LiNbO3)晶体压电弹光双效应的单晶体弹光调制器的设计思想;根据压电振动理论和晶体光学原理,分析了晶体各物理量随空间变换的特性,推导了调制电压-相位差-振幅之间的关系,并对晶体切型和通光方向进行了优化,所设计的晶体尺寸为41mm×7.7mm×17.1mm(x×y×z),切割角为0°(x切),通光方向z轴(光轴),通过在x-z面施加与晶体谐振基频一致的周期性电压,产生沿x方向,频率为73.71kHz的伸缩振动,

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-11
    • 文件大小：746kb
    • 提供者：weixin_38601446

  1. 光弹调制差频偏振测量及误差分析

  2. 针对现有光弹调制测量偏振方法无法用普通阵列探测器有效采集锁相频率,难以测量复色光的偏振特性等缺点,提出了一种三光弹调制器互差频调制的新型偏振测量方法。操作时,3个光弹调制器分别工作在频率w1,w2和w3上,三频率大小略有差异,从而可以对光进行差频调制并产生载有被测光偏振信息的低频调制分量(0,ω1-ω2,2ω1-2ω3);然后,通过锁相放大即可以一次测量获得斯托克斯矢量S中的S0,S1和S2。介绍了三光弹调制差频偏振测量的基本原理,通过相应的数值仿真和实验验证了其可行性,并对差频大小、相位延迟幅

  3. 所属分类：其它

  1. 基于铌酸锂制作光弹调制器用压电驱动器

  2. 基于石英(SiO2)制作光弹调制器(PEM)的压电驱动器时,存在机电耦合系数小、需高压驱动且谐振频率随温度漂移严重等缺陷,故本文研究了PEM的优化设计方法。考虑铌酸锂(LiNbO3)特殊的晶体结构,从理论上推导了LiNbO3晶片作为压电驱动器的可行性,并确定其切型为zyw/35°切。基于有限元分析软件COMSOL4.3a仿真,确定了晶片体积和谐振频率,设计了LiNbO3压电驱动器。对设计出的压电驱动器进行了压电性能测试,并和SiO2压电驱动器进行了比较。将LiNbO3压电驱动器和硒化锌(ZnSe

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：533kb
    • 提供者：weixin_38730767

  1. 基于光弹调制器的压电晶体驱动功率设计

  2. 它确实提供了正负的特性，因为它需要高压，小电流双向正弦电源的工作特性，设计了一种芯片晶体驱动控制器，主要由功率放大电路，充放电电路，LC谐振电路等部分组成。输出正弦电压频率为50.018 kHz，峰-峰值电压可达1 500 V，ZnSe晶体的最大振动位移可以达到4.5μm。可满足淀粉晶体的驱动要求。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：509kb
    • 提供者：weixin_38587005

  1. 精确标定光弹调制器的新方法

  2. 针对现有光弹调制器标定方法的不足,提出了一种精确标定光弹调制器的新方法。首先利用起偏器、波片、光弹调制器和检偏器构成标定光路,通过寻找探测信号基频分量的极大值进行粗略标定,使光弹调制器的峰值延迟量处在1.841 rad附近。然后撤走波片形成光弹调制器的精确标定光路,在检偏器旋转90°前后获得探测信号的直流分量和二次谐波分量。最后利用这两种探测信号的直流分量和二次谐波分量精确地计算出光弹调制器的峰值延迟量。实验验证了此光弹调制器标定方法,实验结果表明其标定误差仅为0.7%。在此光弹调制器标定方法中

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：761kb
    • 提供者：weixin_38536576

  1. 光栅成像位置传感器中的偏振调制技术

  2. 提出了一种用于光栅成像位置传感器的偏振调制技术,利用米勒矩阵对其调制原理进行了详细的分析。该偏振调制器主要由起偏器、萨伐尔板、两块1/4波片、光弹调制器和检偏器构成。起偏器、萨伐尔板置于探测光栅之前,在探测光栅位置上形成两个错位的偏振方向正交的像光栅。两块1/4波片、光弹调制器和检偏器置于探测光栅之后,实现对莫尔信号的高频调制。该偏振调制技术消除了光源光强波动和电路增益变化引入的测量误差,抑制了杂散光、探测器噪声对测量结果的影响。实验验证了该偏振调制技术的有效性,结果表明这一技术使光栅成像位移传

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：517kb
    • 提供者：weixin_38608025

  1. 基于相位调制和样品摆动的1/4波片相位延迟量测量方法

  2. 提出一种基于相位调制和样品摆动的1/4波片相位延迟量测量方法。准直激光束依次通过起偏器、相位调制器、待测1/4波片和检偏器由光电探测器所接收，光信号被转换成电信号后经过放大、滤波以进行数据处理。利用待测1/4波片的摆动可以计算得到与快轴方位角无关的归一化二次谐波分量，在无需知道1/4波片快轴方位角的情况下得到其相位延迟量。实验中对一块石英1/4波片进行了测量，实验结果与现有快轴方向确定条件下的光弹调制测量方法的测量结果一致，某一快轴方位角上多次测量的重复性为0.13°，不同快轴方位角上多次测量的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-26
    • 文件大小：542kb
    • 提供者：weixin_38718690

  1. 考虑静态双折射和圆二色性的弹光调制器偏振特性

  2. 为了进一步理解弹光调制器(PEM)的静态双折射和圆二色性，深入研究了PEM 偏振特性。运用Muller矩阵分别描述弹光调制、静态双折射和圆二色性的偏振特性，建立了同时考虑静态双折射和圆二色性的PEM 偏振特性模型；对该模型进行理论分析和仿真分析；搭建实验装置并进行了偏振调制实验。实验结果表明理论分析正确合理，PEM 的偏振特性应为微小静态双折射、弹光调制和微弱圆二色性效应的组合。此外，还精细测量了其中一个PEM样品的圆二色性值为2.755 × 10

  3. 所属分类：其它

  1. 双弹光调制器动态耦合及控制的一种新方法

  2. 针对双弹光调制器(PEM)中各调制器本征频率差异及其随温度变化造成的调制效率降低问题,提出了基于中心频率控制的解决方案。首先,建立了PEM机械特性等效电路,分析了驱动电压、驱动频率和谐振频率的动态耦合关系,确定了大光程差条件下驱动信号加载方法;其次,结合不同谐振频率PEM的幅频、相频特性曲线,提出了基于中心频率的双PEM控制方法;最后,采用数字频率合成(DDS)技术和数字锁相环(DPLL)技术对双PEM进行驱动及谐振频率漂移跟踪,使各PEM处于同频同相状态。实验结果表明,本文控制方法能够使双PE

  3. 所属分类：其它

  1. 基于光闸叠栅条纹的纳米检焦方法

  2. 针对投影光刻机短波长、大数值孔径、短焦深的特点，讨论了一种基于光闸叠栅条纹的纳米检焦方法。该方法采用三角测量的基本原理，利用双光栅光闸叠栅条纹的光强调制机理，并结合像横向剪切器和光弹调制的光学特性，建立了单个光栅周期内焦面位移量和输出光能量线性关系。其具有非接触、强实时性和高稳健性的特点，经理论分析和模拟测试，达到纳米量级的检测精度，可以满足投影光刻高精度、实时、非接触焦面测量的要求。

  3. 所属分类：其它

  1. 光弹调制器在偏振方向调制中的应用

  2. 提出了一种将光弹调制器应用于偏振方向调制的方法,介绍了它的两种基本使用模式,利用琼斯矩阵对其偏振方向调制原理及其两种基本使用模式进行了分析。光弹调制器和1/4波片形成偏振方向调制器件时,光弹调制器处于两块透光轴相互垂直的1/4波片之间,且光弹调制器的振动轴分别和两块1/4波片的透光轴成±45°角,线偏振光通过此器件其偏振方向被调制。实验验证了光弹调制器组合1/4波片调制偏振方向的原理。将光弹调制器应用在偏振方向的调制中,使现有偏振方向调制技术的光谱范围扩展到了紫外波段。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：930kb
    • 提供者：weixin_38674883

  1. 基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法

  2. 提出了一种基于光弹调制技术的波片相位延迟量测量方法,利用米勒矩阵对其进行了理论推导和误差分析。测量光路包括激光器、起偏器、光弹调制器、被测波片、检偏器和光电探测器,利用探测信号的归一化基频分量和二次谐波分量精确计算出被测波片的相位延迟量。该方法能测量紫外到红外光谱范围内任意相位延迟量的波片,误差分析表明其误差小于0.05°。实验验证了该测量方法的有效性,波片相位延迟量的重复测量精度为0.0048°。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：745kb
    • 提供者：weixin_38732842

  1. 基于光弹调制的消光椭偏测量技术

  2. 为提高消光椭偏测量技术的测量精度,提出了一种基于光弹调制的消光椭偏测量技术。将光弹调制器和两块λ/4波片组合构成旋光调制器,对相关方位角进行调制。通过测量基频分量消光时的起偏器和检偏器的方位角,完成对椭偏参量的测量。与传统消光椭偏测量技术相比,该技术消除了背景噪声和环境干扰等对测量结果的影响。利用琼斯矩阵分析了该椭偏测量技术的原理,最后利用ZnS薄膜验证了基于光弹调制的消光椭偏测量技术的可行性。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-10
    • 文件大小：966kb
    • 提供者：weixin_38738422

  1. 基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术

  2. 针对已有米勒矩阵测量方法的不足，提出了一种基于单光弹调制器的米勒矩阵测量技术，给出了米勒矩阵测量优化算法及系统参数两步校准法。该技术通过两步校准法对系统参数进行校准测量，利用优化算法计算得到待测样品的米勒矩阵。实验结果表明，待测1/4波片相位延迟量测量值为90.4185°，误差在标称偏差λ/300以内，快轴方位角测量值为0.2348°，误差在最大旋转误差0.4°以内。同快轴方位角为0°的1/4波片标准米勒矩阵相比，待测1/4波片米勒矩阵各元素最大相对误差的直接测量值和间接测量值分别为1.97%和

  3. 所属分类：其它

  1. 基于单光弹调制器的米勒矩阵测量误差分析

  2. 针对已有单光弹调制器米勒矩阵测量技术缺乏定量误差分析的不足，提出了单光弹调制器米勒矩阵测量误差方程，给出了相对误差分析方法，并结合矩阵条件数得到了降低米勒矩阵各元素最大相对误差的两组1/4波片方位角优化组合。实验结果表明，该两组1/4波片方位角优化组合，测量得到的待测1/4波片米勒矩阵各元素的最大相对误差分别为0.12%和0.20%，相比传统1/4波片方位角优化组合{-90°,-45°,30°,60°}条件下得到的各元素最大相对误差为0.83%，分别降低了85.54%和75.90%。

  3. 所属分类：其它

  1. 基于铌酸锂压电弹光双效应的单晶体弹光调制器

  2. 为了克服Kemp型弹光调制器调制效率低、加工工艺困难及体积大等缺点，提出了采用铌酸锂(LiNbO3)晶体压电弹光双效应的单晶体弹光调制器的设计思想；根据压电振动理论和晶体光学原理，分析了晶体各物理量随空间变换的特性，推导了调制电压相位差振幅之间的关系，并对晶体切型和通光方向进行了优化，所设计的晶体尺寸为41 mm×7.7 mm×17.1 mm（x×y×z），切割角为0°（x切），通光方向z轴（光轴），通过在x-z面施加与晶体谐振基频一致的周期性电压，产生沿x方向，频率为73.71 kHz的伸缩振

  3. 所属分类：其它

  1. 低功率激光驱动微纳光纤相位调制器

  2. 相位调制器是光学系统中一种重要器件，但目前大部分基于电光效应、热光效应或弹光效应的相位调制器需要通过电信号驱动，不易实现小体积化。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-05
    • 文件大小：865kb
    • 提供者：weixin_38723753

  1. 不同谐振状态下弹光调制器的品质因数分析

  2. 为了提高弹光调制器在高压驱动下的工作效率，以提高傅里叶变换光谱仪的光谱分辨率，在建立弹光调制器的损耗模型和振动方程的基础上，描述了包含损耗因数的弹光调制器幅频特性，并推导了谐振和反谐振频率下弹光调制器的品质因数。结合压电材料的电致伸缩效应及其损耗，分析了高压驱动下各损耗因数之间的关系，提出了一种较谐振驱动具有更高品质因数和调制深度的反谐振驱动方法。实验验证，当驱动电压在500~1200 VP-P范围内，反谐振驱动方法较传统的谐振驱动方式，品质因数和调制深度均提高了43%，有效地提高了弹光调制器的

  3. 所属分类：其它

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