我们提出了一个场理论框架，用于计算保形场论中Rényi熵对纠缠表面形状的依赖性。 我们的方法基于将相应的扭曲算子视为共形缺陷，尤其是，我们定义了位移算子，该位移算子实现了纠缠表面的小局部变形。 我们在定义位移算子的两点函数的系数与扭曲算子的共形权重之间找到一个简单的约束，从而约束了关于Rényi熵的形状依赖性的许多不同猜想。 例如，使用这种方法，我们检查了与任意数量的时空维度中CFT的纠缠表面中与圆锥奇点相关联的普遍系数的一个猜想。 我们还为球状纠缠表面的小变形引起的Rényi熵的二阶变化提供了

我们通过使对称纠缠表面变形来研究纠缠熵（EE）的形状依赖性。 我们显示出具有旋转或平移对称性的纠缠表面相对于破坏某些对称性的形状变形（即一阶校正消失）将EE极端（局部）化。 此结果适用于任何维度的任何QFT的EE和Renyi熵。 使用4d的Solodukhin公式和任何d的全息图，我们计算出CFT和简单对称纠缠表面的通用EE的二阶校正。 对于几个纠缠表面，我们发现任何扰动的二阶校正都是正的，因此相应的对称纠缠表面是局部最小值。 一些结果扩展到自由大块场和4d Renyi熵。