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  1. 超高概率硬件工程师笔试题

  2. 硬件笔试题 模拟电路 1、基尔霍夫定理的内容是什么? 基尔霍夫定律包括电流定律和电压定律 电流定律:在集总电路中,任何时刻,对任一节点,所有流出节点的支路电流的代数和恒等于零。 电压定律:在集总电路中,任何时刻,沿任一回路,所有支路电压的代数和恒等于零。 2、描述反馈电路的概念,列举他们的应用。 反馈,就是在电子系统中,把输出回路中的电量输入到输入回路中去。 反馈的类型有:电压串联负反馈、电流串联负反馈、电压并联负反馈、电流并联负反馈。 负反馈的优点:降低放大器的增益灵敏度,改变输入电阻和输出
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2012-03-27
    • 文件大小:100kb
    • 提供者:huangshuisheng
  1. 模电 数电 单片机笔试及面试问题.pdf

  2. 该文档包括数电、模电、单片机、计算机原理等笔试问题,还讲解了关于面试的问题该如何解答,对大家有一定的帮助电流放大就是只考虑输岀电流于输入电流的关系。比如说,对于一个uA级的信号,就需要放大后才能驱动 一些仪器进行识别(如生物电子),就需要做电流放大 功率放大就是考虑输出功率和输入功率的关系。 其实实际上,对于任何以上放大,最后电路中都还是有电压,电流,功率放大的指标在,叫什么放大,只 是重点突出电路的作用而已。 15.推挽结构的实质是什么? 般是指两个三极管分别受两互补信号的控制,总是在一个三极
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2019-10-12
    • 文件大小:649kb
    • 提供者:fromnewword
  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。一、RAM测试方法回顾方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。方法2:方法1并不能完全检查出RAM
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-13
    • 文件大小:53kb
    • 提供者:weixin_38670186
  1. 几种常用单片机系统RAM测试方法

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-25
    • 文件大小:54kb
    • 提供者:weixin_38629042
  1. 几种常用单片机系统RAM测试的方法

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-07-25
    • 文件大小:54kb
    • 提供者:weixin_38589812
  1. 几种常用的单片机系统RAM测试的方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-10
    • 文件大小:53kb
    • 提供者:weixin_38675506
  1. 基于几种常用的单片机系统RAM测试的方法介绍

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-07
    • 文件大小:53kb
    • 提供者:weixin_38544978
  1. 几种常用的单片机系统RAM测试方法

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-08-25
    • 文件大小:55kb
    • 提供者:weixin_38744962
  1. 单片机RAM测试故障方法有几种?

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。  一、 RAM测试方法回顾  方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。  方法2:方法1并不能完
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:57kb
    • 提供者:weixin_38705558
  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中,芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。    一、RAM测试方法回顾   方法1:一种测试系统RAM的方法是分两步来检查,先后向整个数据区送入#00H和#FFH,再先后读出进行比较,若不一样,则说明出错。   方法2:方
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-19
    • 文件大小:53kb
    • 提供者:weixin_38622611