提出了一种基于衰减全反射原理的实时探测方法。其实验框架由半导体激光器、空间滤波器、聚焦透镜、耦合棱镜、CCD接受装置等组成。激光束先经空间滤波器扩束,再由透镜聚焦,以一定角宽度的光束聚焦于耦合棱镜底面,由于棱镜底面的波导结构,在反射光斑中会出现若干条吸收峰,即显示出标志波导模式的一组黑线,若外界条件变化时(如紫外光照射、电极化等),波导薄膜某些参量会受外界条件的变化而变化,表现为黑线的移动,可根据黑线的移动量,精确测量每一时刻波导薄膜的折射率和膜厚等参量。利用这种技术,可以广泛地用于条波导制作、

依据全反射原理和自准直测角法，实现了对棱镜折射率的精确测量。通过使用高准直半导体激光器将激光入射到棱镜内部与空气分界面上，逐步旋转棱镜或改变棱镜的入射角，得到待测棱镜的反射光强随入射角变化曲线。在曲线左侧收尾处出现一个台阶，其反射光强随入射角增大迅速衰减。全反射临界点，对应的入射角为全反射角。用两次自准直测角法精确测量棱镜底角。通过该方法，分别对两块不同棱镜的折射率进行了测量，测量棱镜折射率精度为±1.24×10-4。