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  1. 半导体光电探测器响应度测试装置的研制

  2. 分析了半导体光电探测器光谱响应度的测试原理；研制了一套波长为0.4～1.1μm的光谱响应度测试装置。该装置采用双光路替代法,可以测试绝对光谱响应度、相对光谱响应度和量子效率,并可减小光源不稳定性对测试结果的影响,最终给出了测试结果比对。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：745kb
    • 提供者：weixin_38744803