半导体器件并联系统可靠性评估的经验Bayes方法 师小琳1，段哲民1，师义民2 （1. 西北工业大学电子工程系，陕西西安 710072；2. 西北工业大学应用数学系，陕西 西安 710072） 摘要:为了提高机载开关电源中半导体器件并联系统可靠性评估的准确性，运用经验Bayes法和经典的统计方法，研究了该系统的可靠性评估问题。分别给出了系统可靠性指标的经验Bayes估计，极大似然估计。利用Monte-Carlo方法，对两种估计结果进行了比较，结果表明，经验Bayes估计的最大绝对