建立“Smile”效应条件下半导体激光阵列近、远场模型，将光纤近场扫描法与高斯光束传输理论相结合，从理论和实验上证明了“Smile”效应值的大小与分布形态共同决定半导体激光器阵列快轴方向实际输出光束质量，获得了不同“Smile”效应条件下半导体激光阵列快轴方向光束参数积Kf值。