通过光谱成像及等离子体监测技术, 研究了基于碳(C)元素的激光诱导击穿光谱(LIBS)技术, 并对样品的烧蚀质量和重复加热进行了深入研究。研究结果表明, 单双脉冲LIBS下的C元素的谱线强度明显不同。双脉冲信号增强的原因不只是烧蚀质量的增加, 还在于双脉冲信号再次加热的物理变化使等离子体形成的环境发生了变化。