注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. 卢瑟福背散射分析技术

  2. 对卢瑟福背散射分析的基本原理作了概要的介绍。论述了背散射分析的最佳实验条件、质量分辨率和分析灵敏度。列举了卢瑟福背散射分析在材料表面层和薄膜研究中的应用例子。

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-06-27
    • 文件大小：338kb
    • 提供者：jokelea

  1. 离子束分析技术在靶材料分析中的应用

  2. 离子束分析技术在靶材料分析中的应用，安竹，刘慢天，本文重点介绍了近几年在四川大学原子核科学技术研究所开展的离子束分析技术工作。这些工作主要包括常规卢瑟福背散射分析、增强质

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-03-02
    • 文件大小：353kb
    • 提供者：weixin_38654348

  1. MeV氧离子注入镁掺杂近化学剂量比铌酸锂制备平面光波导

  2. MeV氧离子注入镁掺杂近化学剂量比铌酸锂制备平面光波导，王磊，项炳锡，采用不同剂量的4.5MeV的氧离子注入镁掺杂近化学计量比铌酸锂形成平面光波导. 利用棱镜耦合方法和卢瑟福背散射/沟道技术测量波导暗模

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-12-29
    • 文件大小：576kb
    • 提供者：weixin_38718223

  1. Yb掺杂对Er/Yb共掺Al2O3薄膜光致荧光性能的影响

  2. 采用反应射频磁控溅射技术，通过调整溅射靶面上金属Er和Yb的面积比例制备出了不同Yb含量的Er/Yb共掺Al2O3薄膜，重点探讨了薄膜制备过程中Er、Yb成分比例控制的可靠性及Yb的掺杂浓度对Er/Yb共掺Al2O3薄膜室温光致荧光谱强度及峰型的影响。利用卢瑟福背散射谱(RBS)和电子能谱(EDX)对薄膜成分进行的分析表明

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：949kb
    • 提供者：weixin_38745859

  1. 离子注入SiO

  2. 本文用卢瑟福背散射和光吸收技术研究了高剂量Ag离子注入SiO_2玻璃以及退火后的状况.吸收光谱测量表明,注入的Ag离子聚集形成了胶态粒子,其等离子共振峰的极大值在400nm处.运用米(Mie)理论和德拜(Doyle)方法,根据测得的等离子共振峰的光宽度,估算出Ag胶态粒子的半径约为18(?).

  3. 所属分类：其它