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搜索资源列表

  1. 电子元器件筛选与检测

  2. 器件筛选与检测，着重介绍电子元器件的老化和焊接工艺

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2008-10-26
    • 文件大小：755kb
    • 提供者：jihaojxp

  1. 环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析.pdf

  2. 环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析pdf,环境应力筛选中的故障模式与排故方法分析nvironmental 环境试验 颗率 影响温度循环效果的参数主要有:温度变化范同、温度变 A—功率谱密度曲线下所覆盖的面积 化熜率、上下限温度下的停留时间、循环次数等。当进行温度 GJB1032中规定图3中相应的量值为W2=W2=0.04g2m, 循环时,这些参数会以不同形式影响产品的筛选效昊,选择恰 N,=3dB/act, N,=-3dB/oct, f,20Hz,/2=80Hz,/3-350Ha 当的温度循

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-19
    • 文件大小：598kb
    • 提供者：weixin_38743602

  1. 13所16专集成放大器系列.pdf

  2. 射频微波器件文档资料，可以提供选型参考， 射频（RF）是Radio Frequency的缩写，表示可以辐射到空间的电磁频率，频率范围从300kHz～300GHz之间。射频就是射频电流，简称RF，它是一种高频交流变化电磁波的简称。每秒变化小于1000次的交流电称为低频电流，大于10000次的称为高频电流，而射频就是这样一种高频电流。射频（300K-300G）是高频(大于10K)的较高频段，微波频段（300M-300G）又是射频的较高频段。睡 2-2.集成宽带放大器续上页 型号 频率范围 功率增益平

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2019-07-02
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：hqhl2012

  1. 集成电路中的集成电路老化测试插座的结构形式

  2. 摘要：集成电路（IC）老化测试插座（以下简称老化测试插座）主要应用于集成电路产品的检测、老化、筛选等场合，其最大的用户是集成电路器件制造厂。本文对集成电路老化测试插座的结构形式做一简单的介绍。 　　集成电路制造厂对其生产的每种集成电路封装器件都要进行老化测试，所以集成电路需求量的迅速增长，为老化测试插座产业也提出了更高的要求，必须具备与产量和品种相适应的老化测试插座。老化测试插座是对集成电路进行可靠性验证和各类环境适应性试验的必备的试验装置。 　　集成电路封装的结构型式 　　集成电路芯片的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：448kb
    • 提供者：weixin_38639471

  1. 小波变换用于半导体激光器可靠性分析

  2. 应用小波变换奇异性检测原理,对近百只半导体激光器(LD)输出I-V特性进行小波变换,通过不同尺度下的变换系数,能够真实、准确地测量和计算半导体激光器的阈值电流以及与可靠性相关的一些参数,模极大值WM2j,结特征参量m等。利用这些计算和测量参数,可以直观地比较和判别出半导体激光器的性能优劣及可靠性,与电导数法相结合,可方便、准确、快捷地对器件性能和可靠性进行评估筛选。理论与实验表明,利用小波变换进行半导体激光器的可靠性分析与传统方法相比具有独到之处。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-05
    • 文件大小：653kb
    • 提供者：weixin_38556541

  1. 高功率半导体激光器电压饱和特性与器件质量

  2. 为实现对高功率半导体激光器快速、有效、无损的质量检测和可靠性筛选,对器件进行了电导数和光导数测试及分析。结果表明高功率半导体激光器的结电压饱和特性与其质量和可靠性紧密相关。结电压饱和特性不好的器件一般都存在某种缺陷,结电压饱和特性的差异超出一定范围的同种类器件一定是质量和可靠性差的器件。因此,阈值处电导数曲线的下沉高度h值可作为器件筛选的一个判据。用模拟测量的方法,对阵列器件和组成它的单元器件的电压饱和特性的相关性进行了研究,阵列器件的电压饱和特性与组成它的单元器件的一致性(均匀性)紧密相关。均

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-13
    • 文件大小：964kb
    • 提供者：weixin_38667920