您好,欢迎光临本网站![请登录][注册会员]  

搜索资源列表

  1. 固结磨料抛光垫作用下的材料去除速率模型

  2. 固结磨料抛光垫作用下的材料去除速率模型,沈建良,朱永伟,化学机械抛光CMP已经成为IC制造中的关键工艺之一,相关机制模型的研究是当前CMP的热点。在对研磨抛光过程作出适当简化的基础上,推�
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-01-31
    • 文件大小:372kb
    • 提供者:weixin_38624332