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搜索资源列表

  1. 网站源码 学校班级类 轩圆学生信息管理系统 ASP+ACCESS

  2. 90323修正右侧框架模向滚动条，添加科目、考试数据删除提示功能。 1.轩圆学生信息管理系统是基于ASP环境开发的B/S架构管理系统，采用Access数据库驱动（可转为SQL数据库）； 2.系统主要功能分为学籍管理和成绩管理两个模块； 3.每个模块都提供完善的数据导入、导出和查询功能； 4.成绩查询可匿名查询，但必须输入对应的学号和姓名； 5.可查询学生的历史考试成绩数据并进行对比； 6.拥有完善的日志管理和系统用户分级管理功能； 7.进入帐号密码：admin 8.内含一份测试用的数据库，可恢

  3. 所属分类：Access

    • 发布日期：2009-05-02
    • 文件大小：351kb
    • 提供者：wwdzwwwdz

  1. 图形学实验 画线，画圆，变换

  2. 只有源码，图形学的两个实验，画线画圆，空间立体变换。directx实现。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-06-29
    • 文件大小：15kb
    • 提供者：anyingliesou

  1. vista下免费的圆和矩形相交测试的可执行程序

  2. 免费的圆和矩形相交测试的可执行程序，另有源代码的包在http://download.csdn.net/source/1583366 下载 这个只有可执行程序，方便演示用。 其实用flash更好，可惜不大会用，这个使用win32API编的

  3. 所属分类：Flash

    • 发布日期：2009-08-17
    • 文件大小：68kb
    • 提供者：xingzhe2001

  1. 半导体测试各种项目简介

  2. 目录：www.2ic.cn#O/t'N:I6X 1， 测量可重复性和可复制性(GR&R) 2， 电气测试可信度（Electrical Test Confidence） 3， 电气测试的限值空间（Guardband）:r1S/K4S%A7D)~!r 4， 电气测试参数 CPK半导体,芯片,集成电路,设计,版图,晶圆,制造,工艺,制程,封装,测试,wafer,chip,ic,design,eda,fabrication,process,layout,package,test,FA,RA,QA ,p

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2009-11-09
    • 文件大小：97kb
    • 提供者：xiaoyuyu9172

  1. 史密斯圆图与阻抗求解新论

  2. 实践证明：史密斯圆图仍然是计算传输线阻抗的基本工具。 在处理RF系统的实际应用问题时，总会遇到一些非常困难的工作，对各部分级联电路的不同阻抗进行匹配就是其中之一。一般情况下，需要进行匹配的电路包括天线与低噪声放大器(LNA)之间的匹配、功率放大器输出(RFOUT)与天线之间的匹配、LNA/VCO输出与混频器输入之间的匹配。匹配的目的是为了保证信号或能量有效地从“信号源”传送到“负载”。 在高频端，寄生元件(比如连线上的电感、板层之间的电容和导体的电阻)对匹配网络具有明显的、不可预知的影响。频率

  3. 所属分类：网络基础

    • 发布日期：2010-01-06
    • 文件大小：241kb
    • 提供者：a2515178

  1. ocm320240-3的C51测试程序

  2. 这是一个相对完整的测试程序，包括直线的绘画，圆的绘画，点的绘画等等，程序已经通过测试。

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2010-11-03
    • 文件大小：33kb
    • 提供者：qqlqdqqlqd

  1. 史密斯圆图演示软件 rf阻抗测试

  2. 一种直观的史密斯圆图演示软件 不知重复没有 拿来分享

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2010-11-13
    • 文件大小：145kb
    • 提供者：ang629

  1. 摩擦补偿;树控机床调试

  2. 西门子数控系统调试,圆测试.西门子数控系统调试,圆测试.

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-01-16
    • 文件大小：134kb
    • 提供者：wgqcom

  1. 点圆测试软件（新）.7z

  2. 点圆白板的新型号（应该是中控机驱动不了的那个）的测试软件 点圆官网没了 特此分享 （点圆白板的标号不清楚，据售后说全都贴一种型号 这款适用于有mspread中控驱动不了的白板 /mspread不适用)

  3. 所属分类：教育

    • 发布日期：2020-06-13
    • 文件大小：914kb
    • 提供者：pzy2002

  1. 电子测量中的Cascade Microtech新型WinCal XE软件支持晶圆级RF测量

  2. 具有复杂多端口RF架构的无线消费类电子设备的激增已促使工程师在他们晶圆级RF器件上进行更困难、更复杂的RF测量。为简化这一流程，Cascade Microtech已扩展了其广受欢迎的WinCal校准软件的功能，包含了将提供更快速、更精确的晶圆级RF测量的关键功能。  　　晶圆测试市场中独一无二的WinCal XE将高级校准功能与RF高精度增强功能进行了完美结合。通过可将操作员错误降至最低且功能强大的新型测量支持工具及指导系统，WinCal XE可实现精确、可靠的RF测量，而解决了当今复杂半导体设

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-25
    • 文件大小：66kb
    • 提供者：weixin_38590738

  1. 电子测量中的惠瑞捷推出面向消费电子芯片的混合信号测试解决方案

  2. 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。半导体设计公司及大量生产制造商经常不得不在性能要求的广度和有效又经济的测试需求之间努力寻求平衡，尤其是在设计和生产对价格很敏感的消费性电子产品内的混合信号组件时，常见于ODD(光驱)、DVD、DTV(数字电视)及STB(机顶盒)等应用中的。这些组件的集成度越来

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-21
    • 文件大小：51kb
    • 提供者：weixin_38620839

  1. FormFactor发表DRAM晶圆探针卡PH150XP

  2. FormFactor发表PH150XP晶圆探针卡，扩展其PH150系列DRAM晶圆测试产品的阵容。PH150XP探针卡提供多项良率与处理量提升的功能，让DRAM制造商能进一步降低整体测试成本。PH150XP探针卡样本已开始供应予各大内存领导制造商进行评估测试。     PH150XP能辅助FormFactor刚于一月推出的新款Harmony XP晶圆探测解决方案。Harmony XP探针卡是针对1GB与更高密度DRAM组件的全区域12寸晶圆所设计，而PH150XP则属低成本解决方案，专门探测

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-03
    • 文件大小：45kb
    • 提供者：weixin_38552305

  1. 单片机与DSP中的惠瑞捷推出消费电子产品混合信号测试解决方案

  2. 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)。     可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的功能有助于缩小测试系统的体积和降低成本。消费性电子产品的混合信号测试解决方案包含下列模块卡：     MB AV8(Multi-Band Audio-Video，新一代的模拟式多频段

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-01
    • 文件大小：47kb
    • 提供者：weixin_38624746

  1. 单片机与DSP中的惠瑞捷推出纳米电子数字信号测试解决方案

  2. 半导体测试公司惠瑞捷半导体科技有限公司(Verigy Ltd.)针对65纳米和更小制程所生产的数字IC的晶圆测试(Wafer Sort)及终程测试(Final Test)，推出可执行结构及功能测试的V93000纳米电子数字信号测试解决方案(Nanoelectronics Digital Solution)。新设计将能大大受惠于这套解决方案提供的深入信息，且测试的效率极高，能以最低的测试成本(CoT)，加快产品的上市时间。     可插入惠瑞捷V93000测试头使用的单槽模块卡每平方公分包含的

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-01
    • 文件大小：40kb
    • 提供者：weixin_38674992

  1. 晶圆测试

  2. 在晶圆制造完成之后，是一步非常重要的测试。这步测试是晶圆生产过程的成绩单。在测试过程中，每一个芯片的电性能力和电路机能都被检测到。晶圆测试也就是芯片测试（die sort）或晶圆电测（wafer sort）。 在测试时，晶圆被固定在真空吸力的卡盘上，并与很薄的探针电测器对准，同时探针与芯片的每一个焊接垫相接触（图4.18）。电测器在电源的驱动下测试电路并记录下结果。测试的数量、顺序和类型由计算机程序控制。测试机是自动化的，所以在探针电测器与第一片晶圆对准后（人工对准或使用自动视觉系统）的测试工作

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：46kb
    • 提供者：weixin_38702844

  1. 提升IC测试厂的产能利用率

  2. 前言 IC测试厂最重要的两大指标就是测试品质与生产效率。测试品质的关键在于测试的再现性与可重复性，而生产要素除了合格率的因素外，最主要的就是测试设备的产能利用率。在质的方面，对于经过测试的每一颗IC，要求在最短的时间内测完所有指标，而且不因时间、地点的不同而测得不同的结果。在量的方面，如何提升测试设备的产能利用率，降低机器准备时间、故障维修时间以及如何减少重测，均考验测试厂的工程技术能力与量产的运行能力。 自动测试设备ATE的生产效率 IC测试厂的服务项目，主要包括晶圆测试、成品测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-13
    • 文件大小：100kb
    • 提供者：weixin_38699593

  1. 惠瑞捷V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案

  2. 惠瑞捷半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。半导体设计公司及大量生产制造商经常不得不在性能要求的广度和有效又经济的测试需求之间努力寻求平衡，尤其是在设计和生产对价格很敏感的消费性电子产品内的混合信号组件时，常见于ODD（光驱）、DVD、DTV（数字电视）及STB（机顶盒）等应用中的。这些组件的集成度越来越高，甚至内建

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：71kb
    • 提供者：weixin_38717143

  1. 惠瑞捷V93000测试系统推出混合信号测试解决方案

  2. 惠瑞捷半导体科技有限公司（Verigy Ltd.）的V93000测试系统推出消费类电子产品的混合信号测试解决方案，可针对各种高集成度的消费性电子产品组件，进行晶圆测试（Wafer Sort）及终程测试（Final Test）。半导体设计公司及大量生产制造商经常不得不在性能要求的广度和有效又经济的测试需求之间努力寻求平衡，尤其是在设计和生产对价格很敏感的消费性电子产品内的混合信号组件时，常见于ODD（光驱）、DVD、DTV（数字电视）及STB（机顶盒）等应用中的。这些组件的集成度越来越高，甚至内建

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：71kb
    • 提供者：weixin_38519234

  1. 电子测量中的测试硬件简介－－－测试手臂(handler and prober)

  2. 测试手臂,他是用来移动及定位芯片及晶圆的.用于晶圆测试(wafer test)叫prober,用于final test 叫handler. 测试手臂在量产的时候非常重要，量产中的最常出现接触性问题(contact issue),通常和测试手及测试座或探针有关.在前期测试开发过程中,设计loadbord时也要考虑和测试手臂的接口. 主要Handler厂商有Epson,multitest,Tesec,advantest等.prober厂商有TSK,TEL,EG等. handler中文学名叫自动

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：25kb
    • 提供者：weixin_38706531

  1. 测试硬件简介－－－探针卡(prober card)

  2. 探针卡(prober card) 是晶圆测试(wafer test)中被测芯片和测试机之间的接口.探针卡对前期测试的开发及后期量产测试的良率的保证都非常重要.一.下面介绍一常见的几类探针卡。1.Blade Type : Under 70 pins,low speed　LOW CURRENT PROBING PROBING AT EXTREME TEMPERATURES: > 200ºC RF PROBING: > 3 GHZ Low cost Lead time 1 day刀

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：34kb
    • 提供者：weixin_38630853
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