复杂物体的快速三维测量是光学三维轮廓术的难题之一。提出了基于调制度比的光学三维测量新方法，设计了基于共轴光路的测量系统。理论分析表明，在几何光学近似下，物体表面一点调制度比的对数与该点的高度成正比，因此可以用调制度比作为物体高度的载体。通过标定建立高度与调制度比的查找表，测量时利用CCD在两个不同的位置分别获取物体表面的光栅信息，利用傅里叶变换方法计算相应物点的调制度并计算比值，根据调制度比值通过查找表得到相应物点的高度信息。该方法采用共轴光路，有效避免了阴影和遮挡问题; 采用调制度比作为物体高