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  1. 基于超薄外延技术的双扩散新型D-RESURF LDMOS设计

  2. 文中针对高压节能应用领域,开发了一种基于超薄外延技术的双扩散BCD兼容工艺,实现了一种新型D-RESURF结构的700V LDMOS设计。结构中N型外延的厚度减小为4.5μm,漂移区长度缩减至70μm,使得芯片面积和制造成本大幅减小。并通过仿真设计,优化了器件结构的表面电场分布,使反向击穿电压达到700V的同时,使器件导通电阻降为33Ω·mm2。流片结果表明,功率管可以达到设计要求。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-10-21
    • 文件大小:233kb
    • 提供者:weixin_38713203