存储器是电路系统中最常用的器件之一，采用大规模集成电路存储芯片构成。实际统计表明，存储器在太空应用中的主要错误是由瞬态错误(也叫单个事件扰动，SEU)所引起的一位错[1]或者相关多位错，而随机独立的多位错误极少。半导体存储器的错误大体上分为硬错误和软错误，其中主要为软错误。硬错误所表现的现象是在某个或某些位置上，存取数据重复地出现错误。出现这种现象的原因是一个或几个存储单元出现故障。软错误主要是由α粒子引起的。存储器芯片的材料中含有微量放射性元素，他们会间断地释放α粒子。这些粒子以相当大的能量冲

随着各种电路和芯片的性能(速度、集成度等)不断提高，尤其是在军事、航空航天等用途中对可靠性的要求往往是第一位的，人们对于系统的可靠性方面的要求日益增加，这对电路系统的设计和制造都提出了严格的目标要求。       存储器是电路系统中最常用的器件之一，采用大规模集成电路存储芯片构成。实际统计表明，存储器在太空应用中的主要错误是由瞬态错误(也叫单个事件扰动，SEU)所引起的一位错[1]或者相关多位错，而随机独立的多位错误极少。半导体存储器的错误大体上分为硬错误和软错误，其中主要为软错误。硬错误所

随着各种电路和芯片的性能(速度、集成度等)不断提高，尤其是在军事、航空航天等用途中对可靠性的要求往往是第一位的，人们对于系统的可靠性方面的要求日益增加，这对电路系统的设计和制造都提出了严格的目标要求。 存储器是电路系统中最常用的器件之一，采用大规模集成电路存储芯片构成。实际统计表明，存储器在太空应用中的主要错误是由瞬态错误(也叫单个事件扰动，SEU)所引起的一位错[1]或者相关多位错，而随机独立的多位错误极少。半导体存储器的错误大体上分为硬错误和软错误，其中主要为软错误。硬错误所表现的现象是

摘　要：分析了存储器产生错误的原因，提出了提高其可靠性的有效途径。结合航天计算机可靠性增长计划，给出了一套利用纠检错芯片对其进行容错的方案，并给出了通过CPLD器件实现的仿真结果。最后对容错存储器的可靠性进行了分析。   关键词：容错；纠一检二；瞬态错误；最佳奇权码；复杂可编程逻辑器件   随着各种电路和芯片的性能(速度、集成度等)不断提高，尤其是在军事、航空航天等用途中对可靠性的要求往往是第一位的，人们对于系统的可靠性方面的要求日益增加，这对电路系统的设计和制造都提出了严格的目标要求。　　存储