随着成像探测技术的发展,对光学系统的分辨能力提出了更高的要求,用传统的光学理论需增大光学系统口径才能满足要求,在对尺寸、重量和价格有限制的实际系统中往往很难实现.基于瑞利判据作为PIV指标的光瞳超分辨技术,可以在不增加光学系统口径的条件下提高系统分辨率.由于本技术可以用光瞳滤波器的形式以硬件实现,成像探测过程不必增加额外的工作时间.在理论分析的基础上,设计了实际的超分辨光瞳,并给出了计算机模拟和实验的结果.