应用傅里叶轮廓变换术进行三维形貌测量中,为了获得待测物体的高度相位信息,通常需要采集两幅图像。因此当光学系统发生变动时,必须重新采集基准光栅图像,不利于快速测量。提出一种从变形光栅图像中获取基准光栅图像信息的测量方法。首先在变形光栅图像中记录基准光栅信息,然后通过傅里叶分析提取基准光栅频率信息,通过图像分析获得基准光栅相位信息,最后重构出一幅完整的基准光栅图像,实现三维物体形貌测量。实验结果验证了该方法的可行的。

基于傅里叶变换轮廓术,提出一种直接从变形光栅条纹中提取基准光栅条纹信息并重建基准光栅的测量方法。分析了基准光栅条纹和参考平面的功能,揭示变形光栅条纹和基准光栅条纹的关系[应用窗口傅里叶变换对变形光栅条纹中的各个微小区域进行频谱分析,从中识别并提取基准光栅的频率和相位信息[重构出一幅完整的基准光栅条纹,实现三维物体形貌测量。实验结果表明该方法是可行的,为三维形貌测量提供一种新手段。