随着现代电子技术的迅速发展，高速电路的应用范围也在日益扩大，系统时钟频率在迅速提高。由于上升时间的加快和电路集成度的不断增加，印制电路板的线迹互连和板层特性对系统电气性能的影响越来越突出，引发了很多信号完整性问题。 互连关系在低频电路设计中可视为集总参数，线迹互连和板层特性的影响可以不考虑。但是，高速电路中的互连线已经成为具有分布参数的传输线，印制电路板材料的介电常数也影响着电路系统的性能，从而出现反射、串扰、和同步开关噪声等信号完整性问题，造成了信号失真、时序混乱、数据错误以及系统误触发等严

第1章 信号完整性分析概论 　　1.1 信号完整性的含义 　　1.2 单一网络的信号质量 　　1.3 串扰 　　1.4 轨道塌陷噪声 　　1.5 电磁干扰 　　1.6 信号完整性的两个重要推论 　　1.7 电子产品的趋势 　　1.8 新设计方法学的必要性 　　1.9 一种新的产品设计方法学 　　1.10 仿真 　　1.11 模型和建模 　　1.12 通过计算创建电路模型 　　1.13 三种测量技术 　　1.14 测量的作用 　　1.15 小结 　　第2章 时域与频域 　　2.1 时域 　　2.

背板是电信和数据通信中，在技术方面相对落后的部分，但又是(从开发的角度和设备角度看)相对地昂贵的部分，它已经成为提高传输速率的“瓶颈”。提高传输率是电子工业面临的一大挑战，高速背板的设计已经成为高速电路设计和仿真技术的会聚点之一。 电磁场理论的应用已经在微波领域相当成熟。随着高速互连时钟频率的不断提高，互连中电磁场的有限传播速度和波动现象：趋肤效应、介质损耗、辐射损耗开始显现，此时在低频时适用的电路理论已经显现不足。因此越来越多人研究用电磁场分析方法来解决电路设计问题，高速数字电路设

差分电路可以有效地去除高频、高速设计中的共模噪声。差分器件和传输线不仅常被用于高速数字总线设计，而且也被用于包括手机在内的许多射频和微波产品中。与测试传统的单端器件相比，测试差分器件和传输线需要更多的测试端口。Anritsu(安立)公司的12端口矢量网络分析仪(VNA)能够对工作在40~65GHz频率范围内的单端信号、混合模式和差分器件进行散射参数(S参数)测试，非常适合高速器件和系统的信号完整性(SI)测量。 　　Anritsu的12端口65GHz系统由一个型号为37397D的双端口VNA系

前面的部分阐述了串扰是由于相邻导体间的互容和互感引起的，那么互容和互感也就决定了耦合到相邻传输线上的噪声。采用如图1所示的模型来分析串扰噪声。假设FR4基板上有两条相邻的50Ω微带线，线宽为W，间距为S，耦合长度为L。为了排除反射的影响，在线的两端端接50Ω匹配负载。微带线1即动态线的一端接信号源，输出幅度为IV的上升沿。 　　如图2所示为图1给出模型的等效电路，以及信号上升沿在传输线上的空间延伸G当信号沿微带线1传播时，它除了感受到自身的电容和电感外，还能感受到与微带线2之间的互容CM和互感