由于一系列新兴特性，两个绝缘体之间的异质界面在氧化物电子学的研究中起着核心作用。 用光操纵界面的传输可导致基态的显着调制并激发局部状态。 然而，它们的动力学和光生载流子的机理仍不清楚。 在这里，这项研究提出了随着时间的推移，在霍尔效应作用下光照后和光照后载流子密度和迁移率的动力学。 发现光照射后的密度和迁移率服从拉伸的指数表达，进一步表明由电子-电子散射引起的迁移率变化除了降低载流子密度外，在恢复过程中也起着重要作用。同时，在低温下在360 nm激光照射下，在LaAlO3 / SrTiO3界面处