鉴于暗物质方向检测实验的最新进展，我们以电弱微调测量值ΔEW<30检验了自然超对称的轻型比诺–希格西诺暗物质（DM）情景（M1 <100 GeV和μ<300 GeV）。 通过施加各种约束，我们注意到：（i）对于sign（μ/ M1）= + 1，DM遗迹密度和对撞机边界所允许的参数空间几乎可以被最近的自旋无关（SI）散射所排除 XENON1T的横截面限制