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  1. Proteus仿真—40个单片机初学程序.

  2. 1. 闪烁灯 1.  实验任务 如图4.1.1所示:在P1.0端口上接一个发光二极管L1,使L1在不停地一亮一灭,一亮一灭的时间间隔为0.2秒。 2.  电路原理图 图4.1.1 3.  系统板上硬件连线 把“单片机系统”区域中的P1.0端口用导线连接到“八路发光二极管指示模块”区域中的L1端口上。 4.  程序设计内容 (1). 延时程序的设计方法 作为单片机的指令的执行的时间是很短,数量大微秒级,因此,我们要求的闪烁时间间隔为0.2秒,相对于微秒来说,相差太大,所以我们在执行某一指令时,插
  3. 所属分类:硬件开发

    • 发布日期:2009-04-13
    • 文件大小:5mb
    • 提供者:q123456qpf
  1. 开关电源环路中的TL431应用.pdf.pdf

  2. 开关电源环路中的TL431应用.pdfpdf,开关电源环路中的TL431.pdf)4卖) 由 1na-1nb= ln 2).因此 1 312s Vr 1n6= R 从这个公式我们可以析取出电流I Vr In6 R 根据R4的值(为4829),可以计算出I1的值。 26m×1.79 ≈97A 482 得到这个电流后,集电极负载R2和R3的压降可根据欧姆定律快速计算出来。 VR2=VR3=3R2I1=R31=1.9k×97m=5.7k×97m=553m(10) 这个电压离采用SPCE计算的偏置点并不
  3. 所属分类:其它

  1. 元器件应用中的如何检测快恢复二极管的好坏

  2. 将万用表置于Rx1k挡,测快恢复二极管的正、反向电阻,正向电阻一般为几欧姆,反向电阻为∞,如果测得的阻值均为∞或为0,则表明被测管子损坏。   快恢复二极管的对管检测方法与上述方法基本相同,但必须首先确定其共用端是哪个引脚,然后再用上述方法对各个快恢复二极管进行检测。  
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-23
    • 文件大小:20kb
    • 提供者:weixin_38659159
  1. 如何检测快恢复二极管

  2. 快恢复二极管在工艺上多采用了掺金措施,结构上采用PIN结构。其正向压降高于普通二极管(1~2V),反向耐压多在 1200V以下。从性能上,又可分为快恢复和超快恢复两个等级。前者反向恢复时间长,后者则在l00ns以下,甚至达到 20~30ns。   检测快恢复二极管的方法与检测普通二极管的方法相同,均是根据二极管的单向导电性,通过测量二极管的正、反向电阻,可方便地判断快恢复二极管的好坏。一般将万用表拨至Rxlk 挡,用黑表笔接二极管的正极,红表笔接二极管的负极,所测得的正向电阻如图3-28所示,
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-01-20
    • 文件大小:122kb
    • 提供者:weixin_38578242