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搜索资源列表

  1. 为存储器测试开发低成本的解决方案

  2. mht文件 存储器测试解决方案的开发以及验证功能和物理连接所需的测试设备功能。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2009-06-08
    • 文件大小：141312
    • 提供者：jerry_liny

  1. IIC接口的铁电存储器测试程序，已通过验证

  2. IIC接口的铁电存储器测试程序，已通过验证

  3. 所属分类：C

    • 发布日期：2009-09-11
    • 文件大小：26624
    • 提供者：huangjm4944

  1. 存储器测试工具的整理

  2. 存储器测试,有关IOmeter和Sunergy的测试不同要点

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2010-10-19
    • 文件大小：133120
    • 提供者：sucamy

  1. SPI接口FM25CL64铁电存储器测试读写代码

  2. SPI接口FM25CL64铁电存储器测试读写代码,在PICC18上编译通过.如果有任何疑问,可以联系我来解答.QQ52478116

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2011-01-11
    • 文件大小：3072
    • 提供者：lcc8559

  1. 体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

  2. SJT 10739-1996 半导体集成电路 MOS随机存储器测试方法的基本原理

  3. 所属分类：电信

    • 发布日期：2011-05-11
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：li923661521

  1. 基于verilog HDL的存储器测试模块源码

  2. 基于verilog HDL的存储器测试模块源码

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-10-26
    • 文件大小：3072
    • 提供者：cc123fire

  1. mini2440存储器测试源码和手册sdram、nor flash和eeprom

  2. mini2440存储器测试源码和手册sdram、nor flash和eeprom

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2013-04-25
    • 文件大小：2097152
    • 提供者：yanceylu

  1. 存储器测试解决方案.pdf

  2. 存储器测试解决方案

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-09-05
    • 文件大小：615424
    • 提供者：weixin_38744207

  1. GB∕T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf

  2. GB∕T 36477-2018 半导体集成电路 快闪存储器测试方法.pdf

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2020-07-09
    • 文件大小：1048576
    • 提供者：tjjqqfws_350

  1. 新型的嵌入式存储器测试算法

  2. 针对目前嵌入式存储器测试算法的测试效率与故障覆盖率难以兼得的现状，提出了兼顾二者的测试算法。实验结果表明该算法最适合对存储器进行大批量的测试。在测试效率上的优势很明显，故障覆盖率也能达到应用标准。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-25
    • 文件大小：77824
    • 提供者：weixin_38716556

  1. 主流DSP存储器测试方法学习指南：TI KeyStone

  2. 存储器相关的问题是DSP 应用中非常普遍的问题。本文介绍KeyStone I 系列DSP 上一些存储器测试的方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-30
    • 文件大小：452608
    • 提供者：weixin_38620314

  1. 电子测量中的在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

  2. 摘要：近年SPI 存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI 属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。 　　本文分析了SPI 存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI 存储器算法图形自动产生的方法，并以SPI EEPROM 芯片AT25HP512 为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。 　　0 引言 　　串行存储器大多采用I2C 或S

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：225280
    • 提供者：weixin_38619967

  1. 为存储器测试开发低成本的解决方案

  2. 本文将探讨存储器测试解决方案的开发以及验证功能和物理连接所需的测试设备功能。并分析除了满足存储器基本功能测试之外，如何扩展测试能力。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-26
    • 文件大小：200704
    • 提供者：weixin_38674569

  1. 惠瑞捷增加并行机制以缩减存储器测试开发时间

  2. 惠瑞捷半导体科技宣布将可编程接口矩阵应用于Verigy V5000e 工程工作站，以帮助存储器制造商在应用V5000e进行工程，测试开发和调试时获得并行测试能力。凭借该矩阵，V5000e 可以并行测试12颗芯片（DUT），减少产线上的操作人员的时间，同时大幅度提高了总产能。此矩阵还将V5000e的引脚数量从128提高到768个测试器资源引脚，从而能够测量具有更高引脚数量的多种类型存储器芯片，包括NOR、NAND、DRAM、SRAM以及 MCP。 　　由于产品寿命周期不断缩短，制造商需要将测试开

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-30
    • 文件大小：58368
    • 提供者：weixin_38625048

  1. 电子测量中的Mirae Corporation发布了一款存储器测试分捡机

  2. 半导体设备制造商Mirae Corporation日前在东京的SEMI Japan发布了一款能同时处理960个器件的并行存储器测试分捡机——M530。 　　M530是世界上首台能够同时测试960个器件的测试分拣机，其产率是之前推出的能同步处理640个器件的并行分捡机M520的1.5倍。作为Mirae的下一代分捡机，M530采用了符合人体工学的设计，从而极大地为操作者提高了设备的易用性和可维护性。 　　通过优化设计减小占地面积，M530还提高了空间利用率，同时其高功能性也进一步得到了增强。 　　作

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-29
    • 文件大小：36864
    • 提供者：weixin_38646230

  1. 为存储器测试开发低成本的解决方案

  2. 便携式技术的发展使人们越来越依赖蜂窝电话、PDA和导航系统这类便携式装置。随着处理器技术的不断进步，过去几年中大容量存储器件的设计和开发呈指数级增长。例如，从苹果公司的iPod Mini到尺寸更小的iPod Nano产品，重新设计的关键部件不是速度更快的处理器，而是采用闪存取代了硬盘。这些装置的可靠性取决于存储器的正确设计和测试。 在开发和测试存储器件方面，工程师面临着许多挑战。要获得更低的消费价格，就要不断削减测试成本和时间。一直以来，设计团队不得不为每个设计购买或租赁昂贵的高端存储器测试

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-10
    • 文件大小：173056
    • 提供者：weixin_38746018

  1. Agilent Versatest V4000提供高性能存储器测试功能

  2. 安捷伦科技近期推出适用于存储器和逻辑器件测试的Agilent Versatest V4000系统。该新品提供了100MHz的性能和独立的64条I/O通道，保证其应用程序全面兼容所有Versatest系列产品。适用于包括手机、PDA和MP3播放器中使用的闪存、DRAM、SRAM、嵌入式内存和纯逻辑模块在内的各种应用。www.agilent.com   

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-05
    • 文件大小：25600
    • 提供者：weixin_38743054

  1. 一种改进的嵌入式存储器测试算法

  2. 摘要  基于一种适合于测试静态简化故障的March SS算法，提出了一种改进的嵌入式随机存取存储器测试算法－March SSE算法。该算法在测试长度不变的情况下，不仅能测出March SS算法所测试的全部的功能故障，而且还能检测出March SS算法所遗漏的固定开路故障，以及大部分的动态故障，故障覆盖率得到了大幅度地提高。 关键词 故障原语,静态故障,动态故障,存储器测试,故障覆盖率  1  引言    随着深亚微米VLSI技术的发展，大量的不同厂家的电路设计或核集成到一个芯片上。存储器密

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-08
    • 文件大小：133120
    • 提供者：weixin_38629939

  1. 在通用自动测试仪上实现SPI 存储器测试的方法研究

  2. 摘要：近年SPI 存储器已广泛用于各类电子产品和工业测控系统中，但SPI 属于串行接口，难以使用算法图形产生器自动产生地址，因此难以在通用自动测试仪上进行测试。 　　本文分析了SPI 存储器的结构特点和测试难点，提出了一种基于并行转串行逻辑的SPI 存储器算法图形自动产生的方法，并以SPI EEPROM 芯片AT25HP512 为例，实现了测试程序开发。实验证实，该方法可以克服SPI 存储器地址算法自动产生的困难，对该类芯片测试具有通用性。 　　0 引言 　　串行存储器大多采用I2C 或S

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：218112
    • 提供者：weixin_38548434

  1. FLASH存储器测试程序原理和几种通用的测试方法

  2. 1．引言　　随着当前移动存储技术的快速发展和移动存储市场的高速扩大，FLASH型存储器的用量迅速增长。FLASH芯片由于其便携、可靠、成本低等优点，在移动产品中非常适用。市场的需求催生了一大批FLASH芯片研发、生产、应用企业。为保证芯片长期可靠的工作，这些企业需要在产品出厂前对FLASH存储器进行高速和细致地测试，因此，高效FLASH存储器测试算法的研究就显得十分必要。　　不论哪种类型存储器的测试，都不是一个十分简单的问题，不能只将存储器内部每个存储单元依次测试一遍就得出结论，这是因为每一个存

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：161792
    • 提供者：weixin_38625098
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