摘要：本文介绍了一款RISC_CPU的可测性设计,为了提高芯片的可测性,采用了扫描设计和存储器内建自测试,这些技术的使用为该芯片提供了方便可靠的测试方案。 　　1 引言 　　随着IC设计方法与工艺技术的不断进步，集成电路结构和功能日益复杂，测试问题成为必 须考虑的关键问题，测试成本作为整个IC产品成本的主要组成部分，也受到了极大的重视。由 于国内自动测试设备（Automatic Testing Equipment）主要依赖进口，价格昂贵，测试图形产生， 特别是测试量产过程的花费（例如测试时间