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  1. EDA—EDA技术实用教程(pdf影印)

  2. 学习VHDL和FPGA的经典资料 第 1 章 概述 1.1 EDA 技术及其发展 1.2 EDA 技术实现目标 1.3 硬件描述语言VHDL 1.4 VHDL 综合 1.5 基于VHDL 的自顶向下设计方法 1.3 EDA 技术的优势 1.3 EDA 的发展趋势 【习题】 第 2 章 EDA 设计流程及其工具 2.1 设计流程 2.1.1 设计输入(原理图／HDL 文本编辑) 2.1.2 综合 2.1.3 适配 2.1.4 时序仿真与功能仿真 2.1.5 编程下载 2.1.6 硬件测试 2.2

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-06-07
    • 文件大小：8mb
    • 提供者：zt839486421

  1. EDA—EDA技术实用教程

  2. 综合 1.5 基于VHDL 的自顶向下设计方法 1.3 EDA 技术的优势 1.3 EDA 的发展趋势 【习题】 第 2 章 EDA 设计流程及其工具 2.1 设计流程 2.1.1 设计输入(原理图／HDL 文本编辑) 2.1.2 综合 2.1.3 适配 2.1.4 时序仿真与功能仿真 2.1.5 编程下载 2.1.6 硬件测试 2.2 ASIC 及其设计流程 2.2.1 ASIC 设计方法 2.2.2 一般ASIC 设计的流程 2.3 常用EDA 工具 2.3.1 设计输入编辑器 2.3.2

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2010-11-19
    • 文件大小：8mb
    • 提供者：sundyqt

  1. 模电 数电 单片机笔试及面试问题.pdf

  2. 该文档包括数电、模电、单片机、计算机原理等笔试问题，还讲解了关于面试的问题该如何解答，对大家有一定的帮助电流放大就是只考虑输岀电流于输入电流的关系。比如说,对于一个uA级的信号,就需要放大后才能驱动 一些仪器进行识别(如生物电子),就需要做电流放大 功率放大就是考虑输出功率和输入功率的关系。 其实实际上,对于任何以上放大,最后电路中都还是有电压,电流,功率放大的指标在,叫什么放大,只 是重点突出电路的作用而已。 15.推挽结构的实质是什么? 般是指两个三极管分别受两互补信号的控制,总是在一个三极

  3. 所属分类：嵌入式

    • 发布日期：2019-10-12
    • 文件大小：649kb
    • 提供者：fromnewword

  1. 常用的单片机系统ram测试方法

  2. 本文主要讲了常用的单片机系统ram测试方法，希望对你的学习有所帮助。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-15
    • 文件大小：50kb
    • 提供者：weixin_38674675

  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中，芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。一、RAM测试方法回顾方法1：一种测试系统RAM的方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。方法2：方法1并不能完全检查出RAM

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-13
    • 文件大小：53kb
    • 提供者：weixin_38670186

  1. LED使用过程中辐射损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-31
    • 文件大小：61kb
    • 提供者：weixin_38616435

  1. 几种常用单片机系统RAM测试方法

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-25
    • 文件大小：54kb
    • 提供者：weixin_38629042

  1. 几种常用单片机系统RAM测试的方法

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-07-25
    • 文件大小：54kb
    • 提供者：weixin_38589812

  1. 详解LED使用过程中的辐射损失

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。本文主要介绍LED使用过程中的辐射损失问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-01
    • 文件大小：62kb
    • 提供者：weixin_38623919

  1. 几种常用的单片机系统RAM测试的方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-10
    • 文件大小：53kb
    • 提供者：weixin_38675506

  1. 基于几种常用的单片机系统RAM测试的方法介绍

  2. 本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-07
    • 文件大小：53kb
    • 提供者：weixin_38544978

  1. 几种常用的单片机系统RAM测试方法

  2. 在各种单片机应用系统中,存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性,对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法,并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-08-25
    • 文件大小：55kb
    • 提供者：weixin_38744962

  1. LED使用过程中辐射损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。     出光率决定LED光源应用程度     LED灯具与传统灯具有完全不同的结构，而且结构对发挥其特性有着关健作用，现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。     德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-19
    • 文件大小：62kb
    • 提供者：weixin_38649315

  1. 常用的单片机系统RAM测试方法

  2. 在各种单片机应用系统中，存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：53kb
    • 提供者：weixin_38727199

  1. LED使用过程中辐射损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-25
    • 文件大小：58kb
    • 提供者：weixin_38627603

  1. 显示/光电技术中的LED使用过程中的损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。 　　出光率决定LED光源应用程度 　　LED灯具与传统灯具有完全不同的结构，而且结构对发挥其特性有着关健作用，现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。 　　德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入纳米荧光粉可

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-11-05
    • 文件大小：63kb
    • 提供者：weixin_38503483

  1. LED使用过程中辐射损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。     出光率决定LED光源应用程度     LED灯具与传统灯具有完全不同的结构，而且结构对发挥其特性有着关健作用，现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。     德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：62kb
    • 提供者：weixin_38722348

  1. LED使用过程中的损失分析

  2. 常用的单片机系统RAM测试方法 LED被称为第四代照明光源或绿色光源，具有节能、环保、寿命长、体积小等特点，可以广泛应用于各种指示、显示、装饰、背光源、普通照明和城市夜景等领域。近年来，世界上一些经济发达国家围绕LED的研制展开了激烈的技术竞赛。 　　出光率决定LED光源应用程度 　　LED灯具与传统灯具有完全不同的结构，而且结构对发挥其特性有着关健作用，现代LED灯具主要由LED光源、光学系统、驱动性器、散热器、标准灯具接口等五部分组成。 　　德国量一的芯片内通过在硅胶中掺入纳米荧光粉可

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：62kb
    • 提供者：weixin_38605144

  1. 单片机RAM测试故障方法有几种？

  2. 在各种单片机应用系统中，芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。　　一、 RAM测试方法回顾　　方法1：一种测试系统RAM的方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。　　方法2：方法1并不能完

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：57kb
    • 提供者：weixin_38705558

  1. 单片机系统RAM故障的几种测试方法介绍

  2. 在各种单片机应用系统中，芯片存储器的正常与否直接关系到该系统的正常工作。为了提高系统的可靠性，对系统的可靠性进行测试是十分必要的。通过测试可以有效地发现并解决因存储器发生故障对系统带来的破坏问题。本文针对性地介绍了几种常用的单片机系统RAM测试方法，并在其基础上提出了一种基于种子和逐位倒转的RAM故障测试方法。 　　　一、RAM测试方法回顾 　　方法1：一种测试系统RAM的方法是分两步来检查，先后向整个数据区送入#00H和#FFH，再先后读出进行比较，若不一样，则说明出错。 　　方法2：方

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-19
    • 文件大小：53kb
    • 提供者：weixin_38622611
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