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  1. MATLAB干涉条纹

  2. matlab生成干涉条纹,默认3频4步,可更改。 可设置内容:频率、相移、生成图像大小、振幅、背景。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-03-29
    • 文件大小:567byte
    • 提供者:qq_36356466
  1. 1.4 干涉条纹的可见度

  2. 1.4 干涉条纹的可见度 教学课件PPT
  3. 所属分类:专业指导

    • 发布日期:2013-05-10
    • 文件大小:502kb
    • 提供者:u010541863
  1. 与PC机通讯的STM32干涉条纹处理程序.rar

  2. 该程序和菜鸡发的上一个CVI程序是一套,这个文件里主要涉及到stm32下位机通信程序和相关干涉条纹检测算法,适合刚入门stm32的新手学习。
  3. 所属分类:嵌入式

  1. 干涉条纹处理的CVI程序设计.rar

  2. 分享一下关于干涉条纹处理的CVI程序,内部有程序相关说明,涉及CVI上位机设计及通讯,MODBUS协议,也是工程应用中必备知识,该程序已经经过验证,能够完成相关功能。可以供大家好好学习CVI知识!
  3. 所属分类:嵌入式

    • 发布日期:2020-07-07
    • 文件大小:368kb
    • 提供者:weixin_43853738
  1. 光可调太赫兹带干涉条纹偏移

  2. 光可调太赫兹带干涉条纹偏移
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-03-26
    • 文件大小:695kb
    • 提供者:weixin_38502814
  1. 数值孔径与数字剪切散斑干涉条纹亮度的关系

  2. 分析了数字剪切散斑干涉条纹图的形成理论,并获得了条纹亮度与摄象机数值孔径等参数的精确关系式.从理论分析和实验验证均得出在采用小的摄象机数值孔径和3 mW He-Ne激光器的情况下,仍可获得比较满意的数字剪切散斑干涉条纹图.理论工作及其结论对于进行数字剪切散斑干涉实验的最佳参数选择具有指导作用.
  3. 所属分类:其它

  1. 干涉条纹的微处理机分析

  2. 利用微处理计算机建立了干涉条纹的数据分析系统,其中包括波面插值、象差和面形分析、点扩散函数、积分能量分布和光学传递函数的计算等.该系统还可修正干涉仪的误差、测量波面平均曲率等.
  3. 所属分类:其它

  1. 用光电二极管列阵测干涉条纹周期的精度分析

  2. 分析了用1024单元的光电二极管列阵测量干涉条纹周期时,采样密度对测量精度的影响.采样数据的量化为256,每个干涉条纹的采样点数从10至30左右时,测量精度最高,可优于2×10~(-5).量化小时,最佳采样密度变小.
  3. 所属分类:其它

  1. 一种实现干涉条纹扫描的新方法

  2. 本文提出一种新的干涉条纹扫描方法.该方法通过在光源光路中放置旋转波片实现相位调制,从而避免了在干涉光路中引入扰动.该方法与现有方法相比,具有精度高、成本低、性能可靠等优点.
  3. 所属分类:其它

  1. 散斑法中的干涉条纹级数判别及细分方法

  2. 本文给出一种判别及细分散斑法中的干涉条纹级数的简单方法。它可以用于确定位移的大小,干涉条纹级数的判别与细分、提高测量精度以及自动分析。
  3. 所属分类:其它

  1. 多噪声干涉条纹图像的检测方法

  2. 将条纹骨架级次标定算法,用于实验样本中激光干涉条纹的检测。运用自适应窗口滤波处理不同形态的干涉条纹,同时对实验样本作降噪处理,得到了对比度较高的干涉图像,然后根据完善的样本图像提取干涉条纹并实时标定、检测条纹。结果表明:这种基于多噪声的干涉条纹检测模型能够实现光学元件的实时检测,并有效提高光学元件的检测效率,且能够实现基于C++平台的工业自动化检测。
  3. 所属分类:其它

  1. 全息光栅干涉条纹三维锁定系统的设计

  2. 全息曝光系统中干涉条纹的稳定性直接影响光栅掩模质量。研究了参考干涉条纹的特性, 提出一种光栅相位、倾斜度和周期的检测方法。为提高光栅曝光系统的稳定性, 设计了一套全息光栅干涉条纹三维锁定系统。利用摄像机对参考干涉条纹进行检测, 利用微电机和压电陶瓷对光路进行微调, 可实现对光栅相位、倾斜度和周期的有效控制。实验结果表明, 三维锁定系统可有效提高干涉条纹的稳定性, 缩短光栅曝光前的静台稳定时间, 提高光栅曝光对比度, 可为大口径全息光栅曝光质量的提高提供技术支持。
  3. 所属分类:其它

  1. 扫描干涉场曝光系统中干涉条纹周期精确测量方法

  2. 扫描干涉场曝光系统中的干涉条纹周期是相位锁定系统的重要参数,为精确测量干涉条纹周期,根据扫描干涉场曝光系统的特点提出了分束棱镜移动测量干涉条纹周期的方法,根据高斯光束传播理论,分析了该方法的理论误差;提出了周期计数法对周期测量数据进行计算。为降低对系统二维工作台运行及稳定精度的要求,提出了小行程高精度位移台辅助测量周期的方法,并进行了相关实验验证。结果表明:小行程位移台辅助周期测量方法在原理上可行,对于干涉条纹线密度1800 line/mm 的系统参数,小行程位移台辅助周期测量的重复性可达到1.
  3. 所属分类:其它

  1. 基于剪切干涉的单幅干涉条纹相位恢复算法

  2. 单幅干涉条纹相位恢复算法中通过两次希尔伯特变换获得正弦分量和余弦分量,然后求出水平方向和垂直方向的相位斜率,再采用积分的方法对相位进行恢复,即可得到全场相位分布。然而,相位变化过快时得到的相位斜率不连续,此时就不能直接采用该方法进行相位恢复。针对这一弊端,将剪切干涉计量原理引入到相位恢复算法中,对包裹相位建立二维复光场,获得连续相位斜率的离散偏导,提出用三次积分法即可恢复原始相位。实验验证该方法不仅能够有效地解决相位变换过快和相位截断的影响,而且能较精确地恢复原始相位。
  3. 所属分类:其它

  1. 基于最小二乘迭代的多表面干涉条纹分析

  2. 为了准确地测量透射平行平板,提出了基于最小二乘迭代的多表面干涉条纹分析方法。依据波长调谐相移的原理,通过最小二乘迭代准确地求得每组双表面干涉条纹的实际相移值,从而准确地提取平板前后表面面形及厚度变化等信息。模拟计算结果表明,当相移值有微小偏差(小于0.2 rad)时,通过10次迭代后求得相位的峰值(PV)误差为0.005 rad,均方根(RMS)误差为0.002 rad,而相应Okada算法的PV误差为0.512 rad,RMS误差为0.103 rad。实验结果验证了该算法的有效性。
  3. 所属分类:其它

  1. 全息检测中的焦散线现象与干涉条纹的关系

  2. 在实时全息干涉计量实验中,当试件负荷甚大时,干涉条纹中会出现一些阴影区,它们在试件破裂过程中起重要作用。当负荷接近试件断裂强度时,可清晰看到并记录下阴影区的延伸、分叉、扩展直至试件破裂的过程。这些阴影区实际上就是几何光学中的焦散线现象。应用此现象可以计算应力强度因子。介绍了在寻找全息干涉条纹与应力强度因子之间关系所作的研究,导出了干涉条纹最大值与应力强度因子之间的定量关系式。从而,为使用全息法与焦散线法相结合的检测方法提供了定量计算的基础。
  3. 所属分类:其它

  1. 来自磁光阱中冷原子团的荧光干涉条纹及其应用

  2. 实验观察到来自磁光阱中冷原子团的荧光经真空系统窗口的平板玻璃反射产生的干涉条纹.理论分析表明从从荧光干涉条纹的强度分布中可获得关于俘获原子总数以及密度分布的信息.采用该方法实测了俘获原子总数,并模拟得到了不同密度分布时条纹的对比度变化.
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:118kb
    • 提供者:weixin_38592643
  1. 三表面干涉条纹空域傅里叶分析

  2. 为了准确测量透射平行平板,提出了单幅三表面干涉条纹空域傅里叶分析法,根据三表面干涉条纹频谱的旁瓣位置及峰值不同,分别提取平板前、后表面的面形及厚度变化等信息。通过与相移法(PSI)对比实验发现,该方法测量准确且重复性高。分析了两种方法各自的主要误差并量化:相移法中平板后表面反射光对前表面测量的影响;傅里叶分析法中的边界效应,离轴像差和平板材料均匀性引入的测量误差。
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2021-02-11
    • 文件大小:711kb
    • 提供者:weixin_38528939
  1. 采用四象限探测器检测干涉条纹正交信号的新方法

  2. 将四象限探测器应用于激光干涉的测量领域, 提出一种检测激光干涉条纹正交信号的新方法。利用四象限探测器的探测区域象限化特征, 以及干涉条纹在探测单元内的矢量叠加原理, 实现了干涉条纹的正交信号检测。实验表明, 通过改变四象限探测器的旋转角度, 可以简便地检测到条纹的正交信号。当检测不同周期的干涉条纹时只需旋转四象限探测器至适当角度, 就可检测到相应周期干涉条纹的正交信号, 并且采用了差分技术处理信号, 从而有效地抑制了外界环境产生的噪声。与传统检测方法相比具有易于操作、抗干扰能力强等优点。
  3. 所属分类:其它

  1. 干涉条纹空间频率对数字叠栅移相干涉测量精度的影响

  2. 基于数字叠栅移相干涉原理,分析了CCD像元尺寸、随机噪声和量化误差对采样后干涉条纹和合成叠栅条纹对比度的影响,并就干涉条纹频率对叠栅移相干涉相位测量精度的影响进行了理论分析和仿真研究。结果表明,随着干涉条纹空间频率的增大,CCD的采样过程、随机噪声和量化噪声会影响叠栅条纹信号的对比度和信噪比,并通过相位解算过程直接影响数字叠栅移相干涉的相位测量精度。以相位测量精度为π/50(折合光程差精度为λ/100)作为判断标准,对应可探测干涉条纹的最大空间频率为0.45 λ/pixel,为后续数字叠栅移相干
  3. 所属分类:其它

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