采用4×4 传输矩阵法研究了一维镜像结构光子晶体的应力效应，重点研究了应力导致的各项异性对缺陷模的影响。模拟结果显示，应力作用导致的晶体厚度的改变，将会导致透射谱中缺陷模的明显移动，缺陷模的移动和晶体厚度呈现线性关系。进一步研究证实，对于不同材料，应力作用导致的介质的各向异性将加强或削弱这一效应。在如今对传感器精度要求越来越高的情况下，光子晶体的这些特性在压力传感器的设计制作中显示出潜在的应用价值。