注册会员 | 设为首页 | 加入收藏夹
您好，欢迎光临本网站！[请登录] ！[注册会员]！  

搜索资源列表

  1. ENVI使用手册--中文版

  2. ENVI（The Environment for Visualizing Images）是一套功能齐全的遥感图像处理系统，是处理、分析并显示多光谱数据、高光谱数据和雷达数据的高级工具。能够进行地物目标识别。完全由IDL开发，方便灵活，可扩展性强。获2000年美国权威机构NIMA遥感软件测评第一。　 ENVI包含齐全的遥感影像处理功能：常规处理、几何校正、定标、多光谱分析、高光谱分析、雷达分析、地形地貌分析、矢量应用、神经网络分析、区域分析、 GPS联接、正射影像图生成、三维图像生成、丰富的可供

  3. 所属分类：网络基础

    • 发布日期：2009-09-06
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：dhq1721

  1. ArcGIS三维分析使用手册

  2. 第一章 ArcGIS三维分析简介 3 三维分析的用途 5 学习三维分析的技巧 8 第二章 快速入门教程 9 复制教程数据 10 练习1：在地形表面上叠加影像 12 练习2：污染物在蓄水层中的可视化 22 练习3：土壤污染及甲状腺癌发病率的可视化 27 练习4：创建TIN表示地形 37 练习5：在ArcScene中操作动画 51 练习6：ArcGlobe基础 58 练习7：ArcGlobe图层分类 68 第三章 创建表面模型 77 什么是表面和表面模型？ 78 使用点集创建栅格数据表面 80 栅

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2011-10-14
    • 文件大小：33mb
    • 提供者：xieshuai0708

  1. SuperMap iDesktop 7C 影像掩膜

  2. 本例基于超图桌面扩展开发示例只读打开影像数据时为影像自定义掩膜范围的功能，通过设置掩膜可自定义影像数据的可见范围。

  3. 所属分类：C#

    • 发布日期：2017-12-13
    • 文件大小：174kb
    • 提供者：supermapsupport

  1. 易康用户操作手册.pdf

  2. 特别好的资源，希望大家可以用来进行学习e Cognition Developer9—用户指南 353分类(最邻近法)( Nearest Neighbor)135 354分类(亮度阈值)( Brightness Threshold) 37 3.6导出数据 DDDD面 DDDDDDD1 361导出(点) 362导出(多边形) 4教程引言 40 4.1形状识别 40 4.1.1将影像分为基木的对象 4.1.2识别背景 41 4.1.3形状和它们的属性 D I …,43 4.1.4完整的规则集… 44

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2019-07-28
    • 文件大小：8mb
    • 提供者：qq_40178533

  1. 中南大学计算机学院梁毅雄老师授课-数字图像处理-考试要点答案整理

  2. 中南大学计算机学院梁毅雄老师授课考试要点答案整理。此文档受众：中南大学！计算机学院！梁毅雄老师授课学生！数字图像处理！中南大学计算机学院梁毅雄老师授课考试重点整理 2019.07.03 Canny边绿检测算法 基本原理 图象边缘检测必须满足两个条件:一能有效地抑制噪声;二必须尽量精确确 定边缘的位置。 从数学上表达了三个准则[信噪比准则(低错误率)、定位精度准则、单边缘 响应准则」,并寻找表达式的最佳解 属于先平滑后求导的方法 步骤 1)使用高欺滤波器,以平滑图像,滤除噪声。 2)计算图像中每个

  3. 所属分类：讲义

    • 发布日期：2019-07-04
    • 文件大小：5mb
    • 提供者：sinat_31857633

  1. maskSall.py

  2. 批量掩膜处理，从各个文件夹中获取tif或img影像，然后通过矢量数据shp，对其进行掩膜处理。批量掩膜处理，从各个文件夹中获取tif或img影像，然后通过矢量数据shp，对其进行掩膜处理。

  3. 所属分类：教育

    • 发布日期：2020-10-10
    • 文件大小：1kb
    • 提供者：yhj0818

  1. 电子测量中的光罩/光刻掩膜版检测（Retical检查）

  2. 光罩是高精密度的石英平板，是用来制作晶圆上电子电路图像，以利集成电路的制作。光罩必须是完美无缺，才能呈现完整的电路图像，否则不完整的图像会被复制到晶圆上。光罩检测机台则是结合影像扫描技术与先进的影像处理技术，捕捉图像上的缺失。 当晶圆从一个制程往下个制程进行时，图案晶圆检测系统可用来检测出晶圆上是否有瑕疵包括有微尘粒子、断线、短路、以及其它各式各样的问题。此外，对已印有电路图案的图案晶圆成品而言，则需要进行深亚微米范围之瑕疵检测。 一般来说，图案晶圆检测系统系以白光或雷射光来照射晶圆表面。再由一

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-10
    • 文件大小：35kb
    • 提供者：weixin_38721652