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放电等离子体中XeI
研究了Xe/I2混合气体(气压70~1330 Pa)在直流辉光放电情况下XeI?匙挤肿拥男纬晒?程,得到了XeI?匙挤肿釉?240~270 nm波长范围内的荧光发射谱.并对XeI??(B→X)跃迁谱线强度随混合气体压力的变化进行了实验研究,发现气压为333 Pa时荧光最强;此条件下,放电等离子体的电子温度为13.2 eV,表明低气压放电等离子体中主要反应通道为快电子碰撞Xe使其跃迁至3P,随之与I2碰撞形成XeI(A,B,C).
所属分类:
其它
发布日期:2021-02-11
文件大小:90kb
提供者:
weixin_38674763