方孔微通道板（MCP）作为一种新型X射线波段光学成像系统,因其具有大视场、高分辨率、能够收集大量辐射并将其准直或聚焦等优点,越来越多地受到了人们的关注。但在MCP制作和加工过程中，难免会使微通道产生一定的结构缺陷，对其成像质量造成严重的影响。利用Tracepro软件建立了标准方孔MCP模型和具有不同结构缺陷的MCP模型，并基于蒙特卡罗（MTC）光线追迹方法对这些模型进行模拟成像。分别讨论了Taper型、Twist 型和Nonsquare型结构缺陷对成像质量的影响。然后以溴钨灯作为光源，在可见光波