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  1. 如何利用trace pro 分析镜头杂散光

  2. 详细介绍了如何利用tracepro软件进行光学镜头设计的杂散光分析，里面有实例教程，易学且深刻，是一个很不错的教程

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2012-07-05
    • 文件大小：227kb
    • 提供者：kaige2012

  1. TracePro典型例子-杂散光分析

  2. TracePro典型例子-杂散光分析，学习TracePro软件，Tracepro是一套可以做照明系统分析，传统光学分析，辐射度以及光度分析的软件，它也是第一套由符合工业标准的ACIS立体模型绘图软件所发展出来的光机软件。 Tracepro提供简单易用的图形接口，所以我们能够轻易的检视模型，建立立体对象，以及设定材料特性，表面性质和光源特性。Tracepro可以同时开启多个档案来完成编辑。

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2018-05-02
    • 文件大小：330kb
    • 提供者：weixin_42118997

  1. 基于tracepro的光学系统杂散光分析

  2. 用tracepro进行光学系统杂散光分析，用tracepro进行光学系统杂散光分析，用tracepro进行光学系统杂散光分析，用tracepro进行光学系统杂散光分析，

  3. 所属分类：制造

    • 发布日期：2018-06-11
    • 文件大小：227kb
    • 提供者：duanxy2010

  1. 杂散光分析

  2. 折返式R-C光学系统杂散光分析，主要阐述了杂散光的主要来源及控制杂散光的主要方式

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2012-10-08
    • 文件大小：672kb
    • 提供者：ioecoollwl

  1. 硬性内窥镜光学系统的杂散光分析与抑制

  2. 硬性内窥镜光学系统的杂散光分析与抑制

  3. 所属分类：其它

  1. 基于能量信息挖掘的杂散光抑制

  2. 基于能量信息挖掘的杂散光抑制

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-03-09
    • 文件大小：512kb
    • 提供者：weixin_38652270

  1. 基于星模拟器光学系统杂散光测试设备设计

  2. 高分辨率光电探测相机探测能力的提高受杂散光的限制, 杂散光在很大程度上决定了探测能力的底限。由于光学系统的杂散光受到诸多因素影响, 必须在最终指标上进行测试, 如: 点源透射率(PST), 用于全系统性能指标控制。利用星模拟器超大动态范围的光辐射输出, 设计了一台光学系统杂散光PST测试设备, 解决了单个探测器动态范围无法覆盖108的问题; 在一定信噪比下, 分析了电子倍增CCD杂散光PST测试能力。经分析杂散光PST测试范围可达到10-2～10-8, 满足高分辨率光电探测相机杂散光测试的要求。

  3. 所属分类：其它

  1. 喇曼分光仪中杂散光的测试

  2. 本文讨论了喇曼分光仪中杂散光测试工作的实施方案及其存在的困难,提出了用改变光吸收液体浓度方便地增减光强进行测试的解决办法,利用普通仪器就能实现光强变化达十三个数量级的测试。文章给出了利用这一减光方法对喇曼分光仪的杂散光进行实际测试的实验装置,绘出了对SD-Ⅱ和SD-IV型全息凹面光栅单色仪以及双单色仪杂散光的实际测试结果。作者还对统一杂散光指标的测试条件提出了建议。

  3. 所属分类：其它

  1. 天基红外成像光学系统杂散光分析与抑制

  2. 杂散光是影响光学系统成像质量的重要因素之一，因此对杂散光的分析与抑制成为现代红外光学系统设计过程中的一个重要环节。根据杂散光抑制要求，确定了天基红外成像光学系统的结构形式；分析了系统存在的杂散光源，计算了系统点源透过率(PST)须满足的条件；设计并分析了遮光罩、挡光环、遮光板、光阑和消杂散光材料等杂散光抑制方法；在杂散光分析软件TracePro 中建立系统模型，分别对系统内部及外部杂散光进行分析，计算并绘制了PST 曲线。结果表明，系统内部杂散光为1.53×10-3 W/m2，系统外部杂散光PS

  3. 所属分类：其它

  1. 大视场日冕仪光学系统杂散光抑制

  2. 大视场日冕仪主要用来对215 倍太阳半径内的日冕进行全周向观测以监测太阳活动并对影响日地空间的灾害性空间天气进行预警。根据杂散光抑制要求，将大视场日冕仪的光学系统设计成外掩透射式二次成像结构，其光学系统长度为355.89 mm，视场为±20°，焦距为40 mm。将大视场日冕仪杂散光按照光强分为三级，其中一级为太阳直射光，二级为外掩体和外窗口边缘的衍射光，三级为内掩体表面反射光、物镜口径边缘的衍射光和散射杂散光。对这三级杂散光分别进行抑制后得到内视场的杂散光抑制水平为10-9量级，外视场的杂散光抑

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-13
    • 文件大小：668kb
    • 提供者：weixin_38555350

  1. 星载激光雷达系统杂散光分析与抑制

  2. 针对全球范围CO2浓度和气溶胶检测的星载激光雷达系统的可行性进行研究。由于大气后向散射信号很弱, 故星载激光雷达对杂散光很敏感。激光雷达系统由Ritchey-Chretien接收望远镜、多波段中继光学系统以及光电探测系统构成, 因此, 相比于传统成像光学系统, 其杂散光的分析与抑制技术得到改进。对光机结构建模, 基于杂散光来源分类和大量光线追迹, 提出了一种位于激光雷达后光学系统中, 而非接收望远镜中的杂散光抑制方法。仿真结果表明, 位于后光学系统中准直器镜筒上的挡光环极大地抑制了杂散光。因此,

  3. 所属分类：其它

  1. 高功率激光系统中杂散光分析的计算机辅助设计

  2. 基于高功率固体激光系统中杂散光的分析结果,利用Wildfire-PRO/E3.0软件将系统中鬼像在装置结构模型中进行了三维可视化仿真, 建立了描述鬼像分布的仿真模型。利用该模型可对装置中可能产生的一阶至多阶鬼像位置进行全面显示, 可从各个角度观察鬼像分布情况, 便于排除无危害的鬼像。同时, 对典型位置的鬼像危害进行了分析, 提出了规避鬼像危害的方法和措施。研究结果为高功率固体激光装置的杂散光管理提供了有力支撑。

  3. 所属分类：其它

  1. 光学表面中频误差对光刻物镜短程杂散光影响分析

  2. 研究了光学表面中频误差对杂散光的影响规律，提出使用功率谱密度函数描述表面中频误差，并通过该描述方法进行杂散光分析；同时利用等效光瞳空间频率对表面中频误差进行公差分析。利用以上方法，对工作波长为193 nm、数值孔径为0.75的光刻物镜进行元件表面中频公差分析，当要求在2~10 μm范围内的杂散光强度占比小于0.5%时，中低频等效光瞳空间频率界限为16，中高频等效光瞳空间频率界限为78。当元件表面功率谱曲线指数取1.5时，功率谱密度系数小于0.06的元件表面满足杂散光要求。结果表明该方法可以有效分

  3. 所属分类：其它

  1. 外部杂散光对风云三号晨昏轨道气象卫星中微光成像仪的影响

  2. 在介绍风云三号E星(FY3E)晨昏轨道气象卫星和微光成像仪特点的基础上, 利用Satellite Tool Kit仿真技术并根据FY3E轨道参数, 针对FY3E所搭载的遥感器(微光成像仪)可能受到来自太阳和月球的外部杂散光的情况进行模拟分析, 并设计了遮光方法来抑制外部杂散光。分析结果表明, 2006-12-18当天太阳矢量与遥感器底部窗口法向量的夹角最小, 遥感器受太阳杂散光的影响最大。进一步分析了遥感器可能受月球杂散光的影响, 发现只要满足太阳遮挡条件, 月球就不会对遥感器产生杂散光。因此,

  3. 所属分类：其它

  1. 红外探测系统自身热辐射杂散光的分析

  2. 设计了Ritchey-Chretien(R-C)型红外探测系统及其遮光罩,运用软件TracePro建立了结构模型,通过光线追迹分析了系统的几个关键内表面自身热辐射杂散光。给出了温度范围为250 K-320 K时,几个关键内表面热辐射产生的杂散光光子数随温度变化的关系。计算了天空背景的杂散光,同时给出了单像元接收到的杂散光光子数增加的速率随温度变化的关系。分析结果表明,常温下使用没有主镜筒的开架式望远镜结构对减小杂散光的效果并不明显。如果要实现背景限探测,系统主镜内遮光罩的温度至少降低至230 K

  3. 所属分类：其它

  1. 同轴两反光学系统杂散光分析及内遮光罩优化设计

  2. 针对某同轴两反光学系统的空间布局特点设计了内遮光罩，并对内遮光罩不同的高度和直径参数进行了系统的杂散光分析，绘制了系统东西方向和南北方向的点源透射率(PST)曲线并得到系统像面处的辐照度，从而为内遮光罩的杂散光抑制能力提供了量化的对比结果，便于内遮光罩进行优化设计。通过杂散光分析，并对内遮光罩的结构强度等参数进行有限元分析(FEA)校核，确定了该口径为320 mm的同轴两反光学系统的内遮光罩高度为100 mm，直径为44.8 mm，使得该遮光罩结构在满足空间遥感器力学性能的要求下达到杂散光抑制的

  3. 所属分类：其它

  1. 全景环带成像系统的杂散光分析及抑制

  2. 全景环带透镜（PAL）在有强光的实际运用中经常会出现像杂散光较强和信噪比降低的情况，对产生的杂散光的分析及抑制非常重要。分析了PAL光学系统中杂散光的主要来源，并提出了一种针对透射面反射产生的杂散光的抑制方法。利用ASAP软件进行仿真，分析了基于该方法设计的PAL光学系统的杂散光情况，结果表明，对比普通的同光学参数的PAL系统，在50°~85°半视场时由透射面反射引起的杂散光减少了约85%，其他视场时杂散光未增多。设计了杂散光对比实验，实验结果验证了仿真结果，表明提出的杂散光抑制方法可以有效抑制

  3. 所属分类：其它

  1. 可见光光学系统杂散光抑制

  2. 以光电跟踪测量系统可见光镜头为例，通过对镜头进行仿真分析，寻找杂散光斑形成原因，然后进行杂散光抑制设计，并与实际测试结果对比，验证软件分析方法的可靠性。对光学系统建立软件分析模型，确定一次散射路径，对2°~3°内各离轴角分别进行杂散光分析，找出主要杂散光源。与实际光学系统测试结果对比，以确定分析的正确性。仿真分析结果表明：离轴角在2.20°~2.65°之间，杂散光在像面中心形成明显杂散光斑，点源透过率(PST)为2.92×10-4。最后通过修改结构，消除杂散光斑，PST 降为3.53×10-5。

  3. 所属分类：其它

  1. 屏蔽罩的优化设计与杂散光分析

  2. 为了解决激光惯性约束聚变系统中屏蔽罩引起的杂散光问题, 建立了屏蔽罩的三维蜂窝结构模型, 提出了屏蔽罩的杂散光分析方法, 分析了屏蔽罩的蜂窝曲率与两蜂窝中心间距对杂散光的影响。结果表明：激光通过屏蔽罩反射, 始终存在反射光光强最强区域; 不同角度的反射光强度峰谷值和光反射回原光束的总能量随着屏蔽罩蜂窝直径和蜂窝间距的增大而增大。基于此, 在设计屏蔽罩时, 应严格控制蜂窝直径与蜂窝间距, 使终端光学系统避开反射光最强区域, 使得散射光相对均匀地分布到立体空间中。

  3. 所属分类：其它

  1. 城市夜光遥感成像系统设计与杂散光分析

  2. 根据城市夜光遥感相机研制要求,采用COOK TMA离轴三反光学结构形式,设计了一个视场为5°×2°,焦距为500 mm,F数为3.8,工作波段为0.4~0.8 μm的全反射式夜光遥感相机光学系统,采用主镜、次镜、三镜共光轴设计,提高了光学装调的可行性。选择合适的初始结构参数,利用CODE V软件进行光线追迹和优化设计,结果表明:光斑的方均根直径为2.305 μm,小于1/8像元,在25 lp/mm奈奎斯特频率处的光学调制传递函数大于0.92,接近衍射极限。采用外遮光罩、挡光环、光阑及消光漆等消杂

  3. 所属分类：其它

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