电子设计中经常碰到的问题是对待测电路(DUT)传输特性的测试，这里所说的传输特性包括增益和衰减、幅频特性、相位特性和时延特性等，而最常见的就是DUT的幅频特性。 　　最初，对于DUT的幅频特性的测试是在固定频率点上逐点进行。这种测试方法繁琐、费时，且不直观，有时还会得出片面的结果。例如，测量点之间的谐振现象和网络特性的突变点常常被漏掉。 　　DDS(DirectDigitalSynthesis)技术是1971年3月由美国学者J.TIerncy,C.M.Rader和B.Gold提出，这是一种从