为实现聚焦双频激电法的研究,设计了聚焦双频激电法超前探水激励信号发送系统,给出了关键电路的详细设计过程,制作了样机且成功用于实验室巷道模拟试验研究。该系统可以输出5路同频同相的调制激励方波电流信号,且5路信号的幅值是单路可调的,以便形成可控的聚焦探测电流场。另外,系统在根据开关电源原理设计的隔离恒流源基础之上增加了二次恒流电路,改善了输出激励信号的波形;同时与主控系统相关的所有控制信号和采样信号都用线性隔离电路进行隔离处理,而且对逆变电路中的所有驱动信号也进行了隔离,以保证输出的5路激励信号在同

网上搜索的28335芯片的中文资料，对28335进行了中文介绍，应该是翻译的，感觉还有点用lEXAS INSTRUMENTS 寄存器 校准 多通道缓冲串行端口 模块 增强型控制器局域网 模块 和 串行通信接口 模块 串行外设接口模块 内部集成电路 外部接 器件支持 器件和开发支持工具命名规则 文档支持 社区资源 电气规范 最大绝对额定值 建议的运行条件 电气特性 流耗 减少流耗 流耗图 散热设计考虑 在没有针对的信号缓冲的情况下,仿真器连接 时序参数符号安排 定时参数的通用注释 测试负载电路 器

与直流电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)测量一样，是否能够进行超快I-V测量对于从事新材料、器件或工艺研发特征分析实验室的所有人都变得十分必要。进行超快I-V测量需要产生高速脉冲波形，并且在待测器件可能发生松弛之前测量产生的信号。 　　早期实现的高速I-V测试，通常是指脉冲式I-V测试系统，是针对某些特定应用而开发的，例如高k介质的特征分析和绝缘体上硅(SOI)恒温测试，或者生成Flash存储器特征分析所需的短脉冲。采用脉冲式I-V测量技术是必需的，因为当采用传统直流I-V技术进行测试

通过使用坐标变换理论，我们提出了一种介质，该介质可用于控制电磁波（EM）的传播，并保持其前端形状和大小，从而沿一个特定方向引导波能量，而不论其波形如何。 。 我们获得了设计此类介质的一般公式，并给出了在圆柱形EM波箱中的典型示例。 这样的介质具有许多潜在的应用，例如超级波导，高方向天线，波形适配器和其他类型的EM设备。 本文提出的方法也适用于声波。

与直流电流-电压(I-V)和电容-电压(C-V)测量一样，是否能够进行超快I-V测量对于从事新材料、器件或工艺研发特征分析实验室的所有人都变得十分必要。进行超快I-V测量需要产生高速脉冲波形，并且在待测器件可能发生松弛之前测量产生的信号。 　　早期实现的高速I-V测试，通常是指脉冲式I-V测试系统，是针对某些特定应用而开发的，例如高k介质的特征分析和绝缘体上硅(SOI)恒温测试，或者生成Flash存储器特征分析所需的短脉冲。采用脉冲式I-V测量技术是必需的，因为当采用传统直流I-V技术进行测试