本文提出了一种应用于测试诊断系统的高精度A/D采样模块设计方案。根据测控系统的设计要求,分析了A/D转换芯片的选择依据,并对选定的芯片内部结构特点进行了论述。文章重点分析了A/D转换模块中的量化与过采样技术的实现,给出了具体的计算公式和实现方法。最后为了提高转换模块的可靠性,分析了该模块在设计中应注意的可靠性设计技巧。

摘要：本文提出了一种应用于测试诊断系统的高精度A/D采样模块设计方案。根据测控系统的设计要求,分析了A/D转换芯片的选择依据,并对选定的芯片内部结构特点进行了论述。文章重点分析了A/D转换模块中的量化与过采样技术的实现,给出了具体的计算公式和实现方法。最后为了提高转换模块的可靠性,分析了该模块在设计中应注意的可靠性设计技巧。 　　1 前言 　　随着计算机技术的飞速发展和普及，数据采集系统也迅速地得到应用，在生产过程中， 应用这一系统可对生产现场的工艺参数进行采集、监视和记录，为提高产品质量，