提出了一种利用薄膜式热电偶探针同时测量三种热电特性的新方法。 使用微分法的稳态条件测量塞贝克系数。 使用四探针法测量电阻率，并使用周期性加热法测量热扩散率。 使用康斯坦丁作为参考材料验证了该方法的有效性。 在描述了该方法的有效性之后，对Bi0.3Sb1.7Te3（一种热电材料）的三种热电特性进行了测量。

在考虑探测光束光斑尺寸对调制光热反射(MPR)信号影响的基础上，建立了三维的薄膜-衬底体系的激光光热反射理论模型。对利用激光光热反射技术测量薄膜热物性的可行性进行了研究，并对影响调制光热反射信号的材料参数进行了分析。此外，通过数值模拟研究了多参数拟合问题，即利用调制光热反射频响信号同时确定薄膜热扩散率、衬底热扩散率和界面热阻这三个物理参数。结果表明，与已有的径向扫描方法相比，频率扫描方法中的这三个参数之间并不存在高度的相关性，因此采用频响信号进行多参数拟合，可提高多参数拟合的收敛性和精确性。

对测量蒸镀薄膜热扩散的脉冲加热技术已作了改进。该法利用电容能的脉冲电源系统将薄膜基片电阻加热到1,000到1000 Κ。迅速加热(时间间隔为20 με）不仅可以研究薄膜镀层，而且可以收集材料的有关数据，在高温时材料的结构要逐渐发生变化,或者出现质量损失。