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用薄磁盘频谱测试黑洞候选者的参数化
我们讨论一个参数化,以描述与Kerr度量的可能偏差,并使用电磁辐射测试天体黑洞候选者。 我们的度量是对Kerr解的非常简单的概括,具有两个主要属性:(1)现象学非常丰富,例如,它可以描述具有高Novikov-Thorne辐射效率的黑洞或很小的黑洞; (2)适用于研究薄盘光谱所需的数值计算。 后一点是我们研究这种参数化的主要动机,因为在实际数据分析中通常有几个参数需要拟合,而当前非Ker指标的问题是计算时间太长。
所属分类:
其它
发布日期:2020-04-08
文件大小:1mb
提供者:
weixin_38522029