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  1. 用超短光脉冲测量半导体微波器件的S参数

  2. 描述了用超短光脉冲测量微波器件Ｓ参数的基本原理和建立的测量系统。用该系统测量了频率高达36 GHz器件的S参数, 并同网络分析仪的测量结果进行了比较, 一致性很好。该系统测量频率可达100 GHz。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-02-11
    • 文件大小：877kb
    • 提供者：weixin_38609128