摘要：本文主要对基于 FPGA (现埸可编程门阵列)核心的SMC(同步及存储核心)混合信号测试仪器的新型结构作技术分析,并对其应用于数字与模拟信号并行系统的测试作介绍。 关键词：FPGA(现埸可编程门阵列)  同步及存储核心(SMC) 数字与模拟信号 子卡   数字化   　　前言-基于FPGA为核心的混合信号测试仪器的新型结构是适应新的挑战   　　与过去FPGA仅仅用作胶合逻辑不同的是,现在FPGA已经被用来实现主要的系统功能, FPGA的逻辑门数已达1千万，内核速度达到400