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  1. 电子测量中的Advantest推出新款测试分捡机和SoC测试系统模块

  2. Advantest Corp.近日推出一款新的测试分捡机,用于包括芯片级封装,球栅阵列(BGA)及四方扁平封装(QFP)等最新封装技术中的高产能并行测试。同时推出的还有用于其T6577 SoC测试系统的新模块,包括一个DDR2 DRAM端口测试选项,一个基带波形发生器与数字转换器,以及结合了一个正弦波发生器和抖动检测模块的第三选项。   这款新的代号为M4841的动态测试分捡机最大并行处理能力达到每次16个器件(该公司现有设备的两倍),每小时能够处理18,500个器件,三倍于旧款产品的产能。Ad
  3. 所属分类:其它

    • 发布日期:2020-11-29
    • 文件大小:50kb
    • 提供者:weixin_38506835