测量误差的来源是由测试系统的精度、以及在对OLED给出信号和进行测量期间所未曾想到的瞬态过程引起的。在进行快速的生产测试时，在稳定状态下进行精确DC测量的能力，是与尽可能快地完成测试的需求相互牵制的。测试周期的时间长短是由源/测量以及开关操作组成的，而这一周期时间可以有非常大的变化范围。比如，如果2400被设置成用最短的测试时间间隔(aperture)完成操作，即0.01 NPLC，那么源/测量过程就可以在1ms内完成。如果把积分(integration)周期或测量时间增加到1.0 NPLC，那