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  1. 铝电解电容应用案例分析

  2. 从电解电容的特性及实列来分析 •1.铝电解电容器的用途 •2.铝电解电容失效机理 •3.铝电解电容使用注意事项 •4.本公司铝电解电容的大类分类 •5.铝电解电容器订购指南 •6.铝电解电容器的技术动向 •7.铝电解电容的构造与开发重点 •8.铝电解电容器制作流程 ......

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-02-05
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：shinyue

  1. 阻容降压电容失效分析与解决方案.pdf

  2. 阻容降压电容失效分析与解决方案pdf,

  3. 所属分类：其它

  1. 基于信息融合的隔爆开关永磁机构储能电容失效诊断

  2. 针对利用单一判据对隔爆开关永磁机构储能电容进行故障诊断时存在较高的误判率的问题,提出了一种基于信息融合理论的电容失效诊断方法。通过分析储能电容的失效机理,得到其有效的故障特征参数,从而建立了储能电容状态评价的证据体系;为避免经验赋值的主观性,提出了基于模糊熵的最小模糊度优化模型,以此模型求取储能电容诊断模糊系统隶属度函数中的未知参数,并构建基于隶属度的电容状态基本概率分配函数。利用D-S证据合成规则实现多种故障信息的融合,并根据基本概率分配(BPA)决策准则来判断储能电容的状态。根据现场采集的数

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-05-10
    • 文件大小：253kb
    • 提供者：weixin_38655987

  1. 电容失效分析

  2. 电容在实际使用过程中，常常因为制造和使用环境使其失效，作为电子工程师掌握电容的失效模式和测试方式，对电容的利用会更加得心应手

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2013-04-24
    • 文件大小：529kb
    • 提供者：u010412313

  1. 片状钽电容失效分析

  2. 片状钽电容失效分析 采用固体钽电容的电路会不会比采用铝电解 电容的好呢?回答是肯定的，但不是在性能上，『面是 在稳定性和适应性方面。固体钽电容最大的优点是 对环境变化反应“迟钝”，而铝电容在‘些比较极 端的环境下，例如长期上作在高温或低温下，可能 会导致容量变小，失效和滤波性能变差等。并且这 些变化不可恢复，即使环境恢复正常，铝电解电容 也不能恢复到原来的容量，而固体钽电容却具有良 好的“自愈”特性。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-11-17
    • 文件大小：479kb
    • 提供者：strcb

  1. 铝电解电容的测试﹑失效分析及发展趋势

  2. 标题都西额的很清楚了 ，还描述什么啊，你说是不是！

  3. 所属分类：专业指导

    • 发布日期：2010-07-27
    • 文件大小：1mb
    • 提供者：machi518

  1. 固体钽电容短路失效分析与措施

  2. 为查明固体钽电容短路失效机理, 进行了固体钽电容短路失效模式的分析, 根据分 析结论制定相应的保证措施。通过加强筛选, 控制搪锡、成形和焊装过程, 有效地避免了短路失 效现象的发生。

  3. 所属分类：硬件开发

    • 发布日期：2011-03-11
    • 文件大小：40kb
    • 提供者：zh_h77

  1. 元器件应用中的陶瓷电容耐压不良失效分析

  2. 摘要：通过对 NG 样品、OK 样品进行了外观光学检查、金相切片分析、SEM/EDS 分析及模拟试验     分析，认为造成陶瓷电容耐压不良原因为二次包封模块固化过程中及固化后应力作用造成陶瓷     -环氧界面存在间隙，导致其耐压水平降低。     注：     1、NG=过程不良，应用于生产制造管理     2、SEM(scanning electron microscope)：扫描式电子显微镜     3、EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-16
    • 文件大小：206kb
    • 提供者：weixin_38699724

  1. 基础电子中的关于PDC电容失效分析

  2. 1  失效PDC电容剖面分析 　　下图是失效PDC电容剖面分析的结果： 　　从以上四个失效失效剖面分析图片可以看出：电容的失效部位相同，都是在靠近端电极的部位的电极被击穿短路失效； 　　2  良品PDC与国巨电容DPA分析 　　对良品NPO材质的PDC与国巨电容剖面分析： PDC 国巨 　　通过对良品电容的对比剖面分析发现：PDC电容内部电极介质厚度在14－15um，国巨电容内部介质厚度在28－29um。可以看出相差较大。 　　对良品NPO材质的PDC电容

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-22
    • 文件大小：361kb
    • 提供者：weixin_38668225

  1. 基础电子中的影响电解电容寿命的因素

  2. 电解电容广泛应用在电力电子的不同领域，主要是用于平滑、储存能量或者交流电压整流后的滤波，另外还用于非精密的时序延时等。在开关电源的MTBF预计时，模型分析结果表明电解电容是影响开关电源寿命的主要因素，因此了解、影响电容寿命的因素非常重要。 　　电解电容的寿命取决于其内部温度。因此，电解电容的设计和应用条件都会影响到电解电容的寿命。从设计角度，电解电容的设计方法、材料、加工工艺决定了电容的寿命和稳定性。而对应用者来讲，使用电压、纹波电流、开关频率、安装形式、散热方式等都影响电解电容的寿命。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：101kb
    • 提供者：weixin_38609571

  1. 电容的失效模式和失效机理分析

  2. 本文详细分析了电容的常见失效模式和不同类型电容的失效机理。

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-21
    • 文件大小：133kb
    • 提供者：weixin_38546024

  1. 基础电子中的陶瓷电容失效原因分析

  2. 多层陶瓷电容器本身的内在可靠性十分优良，可以长时间稳定使用。但如果器件本身存在缺陷或在组装过程中引入缺陷，则会对其可靠性产生严重影响。 　　内在因素主要有以下几种： 　　1.陶瓷介质内空洞 (Voids) 　　导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染，烧结过程控制不当等。空洞的产生极易导致漏电，而漏电又导致器件内部局部发热，进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。该过程循环发生，不断恶化，严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸，甚至燃烧等严重后果。 　　2.烧结裂纹 (fir

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：55kb
    • 提供者：weixin_38518722

  1. 基础电子中的陶瓷电容器件的失效分析方法

  2. 陶瓷电容是电路中常见的元件，在电路中主要起着储能、去耦以及滤波等作用。但是，我们在使用陶瓷电容时，会经常发生失效的情况，遇到这种情况，很多人都不知道如何去检测，下面我们就为大家介绍几种常用的检测方法。 　　1、描超声分析 　　扫描超声方法是分析多层陶瓷电容器的最重要的无损检测方法。可以十分有效地探测空洞、分层和水平裂纹。由于超声的分析原理主要是平面反射，因而对垂直裂纹如绝大多数的烧结裂纹、垂直分量较大的弯曲裂纹的分辨能力不强。同时一般多层陶瓷电容器的检测需要较高的超声频率。图2为典型的空洞和

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-10-20
    • 文件大小：45kb
    • 提供者：weixin_38621897

  1. 动态电子束探针检测技术在亚微米和深亚微米IC失效

  2. 王 勇，李兴鸿（北京微电子技术研究所, 北京 100076）摘要：对扫描电子显微镜静态／动态／电容耦合电压衬度像、电子束感生电流像、电阻衬度像在亚微米和深亚微米超大规模集成电路中的成像方法和成像特点进行了研究，对各种分析技术在失效分析中的应用进行了深入的探讨，为电子束探针检测技术在亚微米和深亚微米集成电路故障定位和失效机理分析中的应用提供了理论基础和实践依据。 关键词：扫描电子显微镜；集成电路；失效分析 中图分类号：TN304.07 文献标识码： A 文章编号：1003-353X(2004)07

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2020-12-09
    • 文件大小：84kb
    • 提供者：weixin_38670420

  1. 关于PDC电容失效分析

  2. 1  失效PDC电容剖面分析 　　下图是失效PDC电容剖面分析的结果： 　　从以上四个失效失效剖面分析图片可以看出：电容的失效部位相同，都是在靠近端电极的部位的电极被击穿短路失效； 　　2  良品PDC与国巨电容DPA分析 　　对良品NPO材质的PDC与国巨电容剖面分析： PDC 国巨 　　通过对良品电容的对比剖面分析发现：PDC电容内部电极介质厚度在14－15um，国巨电容内部介质厚度在28－29um。可以看出相差较大。 　　对良品NPO材质的PDC电容

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：520kb
    • 提供者：weixin_38703968

  1. 影响电解电容寿命的因素

  2. 电解电容广泛应用在电力电子的不同领域，主要是用于平滑、储存能量或者交流电压整流后的滤波，另外还用于非精密的时序延时等。在开关电源的MTBF预计时，模型分析结果表明电解电容是影响开关电源寿命的主要因素，因此了解、影响电容寿命的因素非常重要。 　　电解电容的寿命取决于其内部温度。因此，电解电容的设计和应用条件都会影响到电解电容的寿命。从设计角度，电解电容的设计方法、材料、加工工艺决定了电容的寿命和稳定性。而对应用者来讲，使用电压、纹波电流、开关频率、安装形式、散热方式等都影响电解电容的寿命。 　

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：100kb
    • 提供者：weixin_38678510

  1. 陶瓷电容失效原因分析

  2. 多层陶瓷电容器本身的内在可靠性十分优良，可以长时间稳定使用。但如果器件本身存在缺陷或在组装过程中引入缺陷，则会对其可靠性产生严重影响。 　　内在因素主要有以下几种： 　　1.陶瓷介质内空洞 (Voids) 　　导致空洞产生的主要因素为陶瓷粉料内的有机或无机污染，烧结过程控制不当等。空洞的产生极易导致漏电，而漏电又导致器件内部局部发热，进一步降低陶瓷介质的绝缘性能从而导致漏电增加。该过程循环发生，不断恶化，严重时导致多层陶瓷电容器开裂、爆炸，甚至燃烧等严重后果。 　　2.烧结裂纹 (fir

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：54kb
    • 提供者：weixin_38729607

  1. 陶瓷电容器件的失效分析方法

  2. 陶瓷电容是电路中常见的元件，在电路中主要起着储能、去耦以及滤波等作用。但是，我们在使用陶瓷电容时，会经常发生失效的情况，遇到这种情况，很多人都不知道如何去检测，下面我们就为大家介绍几种常用的检测方法。 　　1、描超声分析 　　扫描超声方法是分析多层陶瓷电容器的重要的无损检测方法。可以十分有效地探测空洞、分层和水平裂纹。由于超声的分析原理主要是平面反射，因而对垂直裂纹如绝大多数的烧结裂纹、垂直分量较大的弯曲裂纹的分辨能力不强。同时一般多层陶瓷电容器的检测需要较高的超声频率。图2为典型的空洞和分

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：44kb
    • 提供者：weixin_38691319

  1. 陶瓷电容耐压不良失效分析

  2. 摘要：通过对 NG 样品、OK 样品进行了外观光学检查、金相切片分析、SEM/EDS 分析及模拟试验     分析，认为造成陶瓷电容耐压不良原因为二次包封模块固化过程中及固化后应力作用造成陶瓷     -环氧界面存在间隙，导致其耐压水平降低。     注：     1、NG=过程不良，应用于生产制造管理     2、SEM(scanning electron microscope)：扫描式电子显微镜     3、EDS（Energy Dispersive Spectrometer）：

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：186kb
    • 提供者：weixin_38683895

  1. 电阻、电容、电感、半导体器件的失效分析

  2. 电子元器件的主要失效模式包括但不限于开路、短路、烧毁、爆炸、漏电、功能失效、电参数漂移、非稳定失效等。对于硬件工程师来讲电子元器件失效是个非常麻烦的事情，比如某个半导体器件外表完好但实际上已经半失效或者全失效会在硬件电路调试上花费大把的时间，有时甚至炸机。 　　所以掌握各类电子元器件的实效机理与特性是硬件工程师比不可少的知识。下面分类细叙一下各类电子元器件的失效模式与机理。 　　电阻器失效模式与机理 　　失效模式：各种失效的现象及其表现的形式。 　　失效机理：是导致失效的物理、化学、热力

  3. 所属分类：其它

    • 发布日期：2021-01-20
    • 文件大小：467kb
    • 提供者：weixin_38627104
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